[发明专利]基于片光显微和共焦狭缝探测的谐波显微测量方法有效
申请号: | 201910045363.X | 申请日: | 2019-01-17 |
公开(公告)号: | CN109884053B | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 王伟波;吴必伟;刘俭;谭久彬 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150001 黑*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 显微 狭缝 探测 谐波 测量方法 | ||
1.基于片光显微和共焦狭缝探测的谐波显微测量方法,飞秒激光脉冲经扫描振镜反射后进入转接光学系统进行球差补偿,接着由显微物镜会聚在样品内部形成谐波信号发生所需的激发聚焦光斑,样品激发出的谐波信号,被垂直于照明方向的探测物镜收集后经过窄带滤光片滤除杂散光,被工作在滚动快门模式的sCMOS接收探测,扫描过程与滚动快门对接同步,通过算法合成不同位置像素的谐波图像,其特征在于sCMOS探测器滚动快门工作模式为每次读取有效区域顶端一行像素的数据同时,激活有效区域底端一行像素开始曝光,滚动快门依次读取和激活,固定大小的有效像素区域从传感器顶部至底部移动,移动速率与扫描振镜速率协同配合,实现共焦狭缝探测。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学,未经哈尔滨工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910045363.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。