[发明专利]小型发光体空间光辐射测量方法、系统以及光纤传像束

说明书

本发明公开了一种小型发光体空间光辐射测量方法、系统以及光纤传像束，属于光学辐射测量领域，本发明包括发光体固定装置、光纤传像束和光谱信息采集装置，所述小型发光体安装在所述发光体固定装置上，所述小型发光体的中心光轴与所述光纤传像束的中心轴线重合，所述小型发光体向空间各方向发出的光线射向所述光纤传像束的输入面，上述光线通过所述光纤传像束的传导，在光纤传像束的输出面输出，所述光谱信息采集装置采集所述光纤传像束的输出面输出的光谱信息，得到所述小型发光体向空间各方向辐射的光谱分布信息。本发明可以快速地采集、快速定性分析小型发光体的空间光辐射信息，操作方式简便、设备体积较小、使用方便。

技术领域

本发明涉及光学辐射测量领域，特别是指一种小型发光体空间光辐射测量方法、系统以及光纤传像束。

背景技术

现有技术采用如下方法测量发光体的光谱特性：将显示设备固定，测试探头安装在三维旋转运动的机械臂上，在机械装置的控制下三维旋转运动的测试探头从多个视角和方位角分时采集数据。

这种测量方法需要光探测器设备多次启动和停止，机械上很难对启动和停止时的位置进行精确定位，因此，测量角度准确度低，并且长期重复性很难保证。而且，该方法适用于测试灯具等远场光学特性，测试探头与灯具之间有足够的空间距离，可以方便的调节测试探头的视角和方位角，但是在测试小型发光体时，由于测试探头与显示设备之间的空间距离很小，很难调节测试探头的视角和方位角，测试复杂并且准确度更低。另外该测量方法在测量过程中耗时很长，特别是在测量角度间隔较小的时候，测量频次更多，测量时间更长。该种测量方式不能满足需要进行大量多频次试验的快速光谱测量。

中国专利文献CN 107907212 A公开了一种空间光谱辐射测量方法以及空间光谱辐射测量系统，在一个采光面罩上设置若干光导，通过光导将被测光源向空间各方向上发散的光线传导在光导汇总屏上集中输出。该专利适用于测试灯具等远场光学特性，采光面罩有足够大的表面积，采光面罩与灯具之间有足够的空间距离，有足够的空间在采光面罩上布置多个光导输入面。但是在测试微小型发光体时(直径小于5mm)，由于待测试位置距离微小型发光体空间距离很小，无法在这微小的尺度上设置采光面罩，即使设置了采光面罩，由于采光面罩的尺寸很小，也无法在采光面罩上设置多个光导。因此，该种测试方法不能进行微小型发光体空间光辐射的测量。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供一种小型发光体空间光辐射测量方法、系统以及光纤传像束，本发明可以快速地采集、快速定性分析小型发光体的空间光辐射信息，操作方式简便、设备体积较小、使用方便。

本发明提供技术方案如下：

第一方面，本发明提供一种小型发光体空间光辐射测量方法，包括发光体固定装置、光纤传像束和光谱信息采集装置，其中：

所述小型发光体安装在所述发光体固定装置上，所述小型发光体的中心光轴与所述光纤传像束的中心轴线重合，所述小型发光体向空间各方向发出的光线射向所述光纤传像束的输入面，上述光线通过所述光纤传像束的传导，在光纤传像束的输出面输出，所述光谱信息采集装置采集所述光纤传像束的输出面输出的光谱信息，得到所述小型发光体向空间各方向辐射的光谱分布信息。

进一步的，所述发光体固定装置与光纤传像束输入面之间的距离根据测量需求可以精确调整。

进一步的，所述光纤传像束是由众多光纤按照一定规则密集排列并按一定工艺加工形成的传递图像的硬质器件。

进一步的，所述光谱信息采集装置为平面光谱信息测量设备，所述平面光谱信息测量设备与所述光纤传像束的输出面间隔一定距离。

进一步的，所述光纤传像束为柱形，所述光纤传像束中每根光纤的中心线相互平行，所述光纤传像束的输入面和输出面均为垂直于光纤传像束中心轴线的平面。