[发明专利]双向TVS二极管及其制备方法在审
申请号: | 201910048422.9 | 申请日: | 2019-01-18 |
公开(公告)号: | CN111463291A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 陈创;高萌 | 申请(专利权)人: | 徐州市晨创电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L29/06;H01L21/329 |
代理公司: | 苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32295 | 代理人: | 仲崇明 |
地址: | 221000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双向 tvs 二极管 及其 制备 方法 | ||
1.一种双向TVS二极管,其特征在于,所述双向TVS二极管包括:
衬底;
位于所述衬底上的N型半导体层,所述N型半导体层包括位于衬底上的第一N型半导体层及位于第一N型半导体层上的第二N型半导体层,所述第一N型半导体层和第二N型半导体层为n+掺杂,第一N型半导体层的掺杂浓度高于第二N型半导体层的掺杂浓度;
位于N型半导体层中的P型注入区,所述P型注入区包括形成于第一N型半导体层中的第一P型注入区及形成于第二N型半导体层中且贯穿第二N型半导体层的第二P型注入区,所述第二P型注入区中的p+离子注入浓度大于第一P型注入区中的p+离子注入浓度;
电极,包括位于所述第二P型注入区上的第一电极及贯穿衬底设置的第二电极;
钝化层,包括位于第二N型半导体层上方的第一钝化层及位于衬底下方的第二钝化层,所述第一电极贯穿第一钝化层设置,第二电极贯穿第二钝化层设置。
2.根据权利要求1所述的双向TVS二极管,其特征在于,所述第一N型半导体层的掺杂浓度为5E15cm-3~9E16cm-3,第二N型半导体层的掺杂浓度为5E14cm-3~9E15cm-3。
3.根据权利要求2所述的双向TVS二极管,其特征在于,所述第一N型半导体层厚度为第二N型半导体层厚度的1~10倍。
4.根据权利要求1所述的双向TVS二极管,其特征在于,所述第一P型注入区的p+离子注入浓度为5E15cm-3~9E16cm-3,所述第二P型注入区的p+离子注入浓度为5E14cm-3~9E15cm-3。
5.根据权利要求4所述的双向TVS二极管,其特征在于,所述第二P型注入区深度为第一P型注入区深度的1~5倍。
6.根据权利要求4所述的双向TVS二极管,其特征在于,所述第一P型注入区的宽度大于第二P型注入区的宽度。
7.一种双向TVS二极管的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:
提供衬底;
在衬底上外延生长n+掺杂的第一N型半导体层,并在第一N型半导体层上通过p+离子注入形成第一P型注入区;
在第一N型半导体层上外延生长n+掺杂的第二N型半导体层,并在第二N型半导体层上通过p+离子注入形成第二P型注入区;
在第二N型半导体层上方和衬底下方分别外延生长第一钝化层和第二钝化层;
通过光刻工艺,分别形成位于所述第二P型注入区上的第一电极及贯穿衬底设置的第二电极;
其中,所述第一N型半导体层的掺杂浓度高于第二N型半导体层的掺杂浓度,所述第二P型注入区中的p+离子注入浓度大于第一P型注入区中的p+离子注入浓度。
8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述第一N型半导体层的掺杂浓度为5E15cm-3~9E16cm-3,第二N型半导体层的掺杂浓度为5E14cm-3~9E15cm-3。
9.根据权利要求7所述的双向TVS二极管,其特征在于,所述第一P型注入区的p+离子注入浓度为5E15cm-3~9E16cm-3,所述第二P型注入区的p+离子注入浓度为5E14cm-3~9E15cm-3。
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