[发明专利]一种地价测算方法及系统

说明书

本发明公开了一种地价测算方法及系统，通过分别计算每块图斑的单项影响因素的功能分，根据每块图斑的单项影响因素的功能分，计算每块图斑的功能分总分，获取待测宗地所覆盖的图斑数量，根据所述待测宗地所覆盖的图斑数量，计算待测宗地的用途功能分，参考标准宗地价格、标准宗地修正系数、标准宗地的用途功能分，测算待测宗地均价，与现有的地价评估方法相比，减少主观判断的成分，对地价的测算结果更加准确，考虑多种影响因素，使地价的测算更加合理。本发明涉及地价测算技术领域。

技术领域

本发明涉及地价测算技术领域，尤其涉及一种地价测算方法及系统。

背景技术

图斑是按照单一地类地块，以及行政界线，土地权属界线或线状地物分割的基础调查单元。

宗地是指土地使用权人的权属界址范围内的地块；是土地登记的基本单元，也是地籍调查的基本单元。

均质区：土地用途及利用条件基本一致的土地区域。均质区指自然要素具有相似性或相对一致的区域

在土地出让或者资产评估时，如何评价一个地块一定使用年限的价格，是一个复杂而专业的问题，现有技术中有多种方法可以对一块宗地价格进行评估，包括市场比较法、收益法、成本法和剩余法等。在这些方法的测算过程中需要考虑的因素非常多而且复杂，同时还存在很多主观判断的成分，容易造成评估结果不够准确。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的是提供一种地价测算方法及系统，对地价测算结果更加准确。

本发明所采用的技术方案是：

第一方面，本发明提供一种地价测算方法，包括：

分别计算每块图斑的单项影响因素的功能分；

根据每块图斑的单项影响因素的功能分，计算每块图斑的功能分总分；

获取待测宗地所覆盖的图斑数量，根据所述待测宗地所覆盖的图斑数量，计算所述待测宗地的第一用途功能分；

选取若干块标准宗地，获取所述标准宗地的价格、所述标准宗地的第一各项修正系数，计算所述待测宗地的第二各项修正系数，根据所述标准宗地的价格、所述标准宗地的第一各项修正系数、所述待测宗地的第二各项修正系数测算所述待测宗地均价。

作为上述方案的进一步改进，所述影响因素包括点状因素、线状因素、面状因素和特定因素，每项所述影响因素包括至少一种影响因子。

作为上述方案的进一步改进，所述分别计算每块图斑的单项影响因素的功能分具体包括：

S11，选取法定图则中的任一块图斑，并获取所选图斑的中心点坐标；

S12，选取一项影响因素，并获取所选项影响因素中的所有影响因子；

S13，遍历所选项影响因素的所有影响因子，计算所选图斑的中心点到每个影响因子的距离，并根据每个影响因子的半径及功能分，计算所选图斑对应每个影响因子的功能分；

S14，选取所选图斑所有功能分的最高值，作为所选图斑对应所选项影响因素的功能分；

S15，遍历所有图斑和所有影响因素，重复步骤S11至步骤S14，直至计算出法定图则中所有图斑相对应的所有影响因素的功能分。

作为上述方案的进一步改进，所述根据每块图斑的单项影响因素的功能分，计算每块图斑的功能分总分具体包括：

S21，依次获取每块图斑的每项影响因素的功能分值m(x)，查询每项影响因素对应的权重w(y)，计算每块图斑的各项影响因素的功能分：

fm＝m(x)w(y)；