[发明专利]一种基于Dijkstra算法获取特检设备检验员的工作时效的方法

说明书

本发明提供了一种基于Dijkstra算法获取特检设备检验员的工作时效的方法，所述工作时效以检验员累计工作量与检测地点路途时间为基础进行统计，所述方法为：通过Dijkstra算法获得检验员每日从工作地到多个检测地点的的最短路径，通过最短路径获得检验员去各个检测地点所需的路途合计时间，并获得多个检测地点的检验设备量所需的检验合计时间，将路途合计时间+检验合计时间来得到特检设备检验员的工作时效，该方法降低了企业的成本。

技术领域

本发明涉及特检设备技术领域，特别是一种基于Dijkstra算法获取特检设备检验员的工作时效的方法。

背景技术

现有的特检设备在使用单位使用一段时间后，需要检验员到达使用单位对设备进行检测，即一个检验工期检验员需要到达多个检测地点进行检测，这样就需要检验员根据需要自己按指定点顺序进行路线分析，检验员在检测多个不同的城市或检测单位时，需要一个最佳的规划，无需浪费在重复路线或冤枉路线上的时间成本。而现有检验员并没有按设定方式进行检验各个单位，这样无疑提高了时间成本。

发明内容

为克服上述问题，本发明的目的是提供一种基于Dijkstra算法获取特检设备检验员的工作时效的方法，检验员根据该方法能获得最短检测时间，从而降低企业的成本。

本发明采用以下方案实现：一种基于Dijkstra算法获取特检设备检验员的工作时效的方法，其特征在于：所述工作时效以检验员累计工作量与检测地点路途时间为基础进行统计，所述方法为：通过Dijkstra算法获得检验员每日从工作地到多个检测地点的的最短路径，通过最短路径获得检验员去各个检测地点所需的路途合计时间，并获得多个检测地点的检验设备量所需的检验合计时间，将路途合计时间+检验合计时间来得到特检设备检验员的工作时效。

进一步的，所述方法具体包括如下步骤：

步骤S1、读取特检设备的检验基础信息，获取一个检验工期检验员要检验的单位、对应检测单位的检验设备量、检测单位对应坐标与检验员工作地之间的距离；

步骤S2、以检验员工作地为起点，通过Dijkstra算法得到检验员从工作地到多个检测单位的的最短路径，通过最短路径得到检验员实际到各个检测单位的路径距离；

步骤S3、设定检验员到各个检测单位的出行平均速度为v，将各个检测单位的路径距离s/出行平均速度为v＝对应检测单位路途时间t1，将各个检测单位路途时间t1进行相加得到路途合计时间；

步骤S4、设定检验员检验设备的检验时间为t2，将各个检测单位的检验设备量*检验时间t2＝各个检测单位检验设备所需的时间，将各个检测单位检验设备所需的时间进行相加获得检验合计时间；

步骤S5、将路途合计时间+检验合计时间来得到特检设备检验员的工作时效。

进一步的，所述检验基础信息包括：检验员姓名、待检验单位、检验设备数量、检测单位对应坐标与检验员工作地之间的距离。

进一步的，所述最短路径获取的方式具体为：通过Dijkstra算法，以检验员工作出发地点为起点，权重为0，以剩下其他家检测单位与工作出发地点的权重为结果集，来获得距离最近的第一家检测单位，设定为第一个到达目的地，以第一家检测单位为中心，以剩下其他家检测单位与工作出发地点的权重为结果集，来获得距离最近的第二家检测单位，设定为第二个到达的目的地，依次类推，最终得到最短路径。

本发明的有益效果在于：本发明根据Dijkstra算法，以人员累计工作量与路途时间计算为核心，通过Dijkstra算法计算出检验员每日从工作地到多个检测单位地点的最短路径，并结合多个检测单位地点的设备工作量，得到特检设备检验检测员的工作时效，检验员根据该方法能获得最短检测时间，从而降低企业的成本。

附图说明

图1是本发明的方法流程示意图。