[发明专利]一种利用银纳米材料检测维生素B1的方法有效
申请号: | 201910052641.4 | 申请日: | 2019-01-21 |
公开(公告)号: | CN109696436B | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 姜翠凤;徒华健;张聪;杨孟达 | 申请(专利权)人: | 盐城工学院 |
主分类号: | G01N21/78 | 分类号: | G01N21/78;G01N21/31 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈国强 |
地址: | 224051 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 纳米 材料 检测 维生素 b1 方法 | ||
本发明公开了一种利用银纳米材料检测维生素B1的方法,包括以下步骤:步骤1,银粒子的制备:在AgNO3溶液中加入NaBH4溶液,在水浴锅中搅拌,逐滴加入谷胱甘肽溶液,于黑暗中继续搅拌,得到谷胱甘肽‑银纳米材料;步骤2:维生素B1的检测:取步骤1制备的谷胱甘肽‑银纳米材料,加入不同浓度的维生素B1溶液,再加入缓冲溶液,双氧水,3,3',5,5'‑四甲基联苯胺(TMB)溶液,观察溶液颜色变化,测其紫外可见吸收光谱,根据颜色变化及紫外可见吸收光谱的变化对维生素B1的浓度进行测定。本发明利用比色法快速检测维生素B1,不需要使用昂贵的仪器,通过颜色变化及紫外可见吸收光谱的变化即可测定维生素B1的含量。
技术领域
本发明属于维生素检测技术领域,特别涉及一种利用银纳米材料的过氧化物酶样活性检测维生素B1的方法
背景技术
维生素B,也称叶酸,是人体必需的营养成分。维生素B主要有维生素B1,B2,B3,B5,B6,B7,B9,B12等多种。每一种都有其独特的作用。其中维生素B1(又称硫胺素或抗神经炎维生素或抗脚气病维生素),对于消除人体疲劳、帮助消化、促进神经系统的正常发育及治疗脚气等方面具有重要作用。然而,现有检测方法主要集中在对复合维生素B的检测(例如:申请号为201510510713.7的中国专利),尚未有单独检测维生素B1的报道。
申请号为201510510713.7的中国专利,检测复合维生素B中多种组分含量,其中有检测维生素B1,使用的是高效液相色谱法。该种方法需要使用昂贵的仪器,需要专业人员操作,且不适合现场检测。另外,所用流动相乙腈有毒,对于食品等领域的检测大大不利。
为了更广泛的推广维生素B1的检测方法,使用廉价易得的仪器进行快速、简单的检测迫在眉睫。
发明内容
本发明的目的是提供一种利用银纳米材料检测维生素B1的方法,以解决现有的维生素B1检测方法存在的需使用昂贵仪器,操作不便捷的问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案为:
一种利用银纳米材料检测维生素B1的方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1,银离子的制备:在AgNO3溶液中加入NaBH4溶液,在水浴锅中搅拌,逐滴加入的谷胱甘肽溶液,于黑暗中继续搅拌,得到谷胱甘肽-银纳米材料;
步骤2:维生素B1的检测:取步骤1制备的谷胱甘肽-银纳米材料,加入不同浓度的维生素B1溶液,再加入醋酸-醋酸钠缓冲溶液,双氧水,3,3',5,5'-四甲基联苯胺(TMB)溶液,观察溶液颜色变化,测其紫外可见吸收光谱,根据颜色变化及紫外可见吸收光谱的变化对维生素B1的浓度进行测定。
所述步骤1中,AgNO3溶液的浓度为0.5-1.5mM,优选为1mM,NaBH4溶液的浓度为0.01g/mL,谷胱甘肽溶液的浓度为1mM;AgNO3溶液、NaBH4溶液、谷胱甘肽溶液的体积比为25:0.2-0.4:0.4-0.6,优选为25:0.3:0.5。
所述步骤1中,在水浴锅中搅拌时的温度为10-40℃,优选为20℃,时间为10min;黑暗中继续搅拌的温度为25℃,时间为2h。
所述步骤1中,逐滴加入的谷胱甘肽溶液的速率为每分钟40-80滴,优选为每分钟40-80滴。
所述步骤2中,不同浓度的维生素B1溶液的浓度为0,0.01,0.05,0.1,0.2,0.4,0.6,1,1.2,2.0nM。
所述步骤2中,谷胱甘肽-银纳米材料、维生素B1溶液、缓冲溶液、双氧水、3,3',5,5'-四甲基联苯胺(TMB)溶液的体积比为8-12:10:10:10:10,优选为10:10:10:10:10。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于盐城工学院,未经盐城工学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910052641.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:维生素D的测定方法
- 下一篇:一种半导体料片的整平装置及其方法