[发明专利]用于将力施加到样本上以使用机电构件检测的方法和设备

权利要求书

1.一种手持式内反射设备，其包括：

手持式壳体；

内反射元件，其安置在所述手持式壳体中且配置成在所述手持式壳体外部提供接触表面；

容纳在所述手持式壳体内的光学组合件，所述光学组合件包括辐射源和辐射检测器，所述辐射源配置成朝向所述接触表面引导源辐射，并且所述检测器配置成检测与所述接触表面光学交互的所述源辐射；

接触臂；

机动力致动器，其耦合到所述接触臂；

定时器；以及

处理器，其容纳在所述手持式壳体内且以电子方式耦合到所述定时器、所述机动力致动器、所述辐射源和所述辐射检测器；其中在由用户起始且通过所述定时器测量的时间间隔之后，所述处理器配置成引导所述机动力致动器向安置在所述接触臂和所述接触表面之间的可疑材料施加接触力，其中在符合所述接触力之后，所述处理器分析通过所述辐射检测器接收到的所述可疑材料的信息。

2.根据权利要求1所述的手持式内反射设备，其中所述接触力是固定力。

3.根据权利要求1所述的手持式内反射设备，其中所述接触力是可由用户选择的力。

4.根据权利要求1所述的手持式内反射设备，其中所述手持式壳体包括凹进区域以使所述接触臂能够驻留在所述手持式内反射设备的突起部中且最小化所述突起部。

5.一种手持式内反射方法，其包括：

在可疑材料上将配置有ATR手持式仪器的接触臂移动到理想位置；

使用受处理器控制的机动力致动器轴向移动所述接触臂，其中所述接触臂移动在由用户起始且通过定时器测量的时间间隔之后向所述可疑材料以及内反射元件的测量表面提供接触力；以及

在与所述可疑材料和所述内反射元件的所述测量表面的所述接触力符合在所述ATR手持式仪器内配置的预定义接触力设置之后，停止所述接触臂的移动。

6.根据权利要求5所述的方法，其进一步包括：向所述用户显示消息以在设置所述时间间隔之后离开附近区域。

7.根据权利要求5所述的方法，其进一步包括：提供与选自含能和压敏材料的多个可疑材料中的每一个的最大接触力相关的查找表。

8.根据权利要求7所述的方法，其进一步包括：基于所述查找表，借助已配置的电气设置移动所述接触臂，其中所述已配置的电气设置为所述可疑材料和所述内反射元件的所述测量表面提供高达所述最大接触力的所述接触力。

9.根据权利要求5所述的方法，其进一步包括：移动所述接触臂以向所述可疑材料和所述内反射元件提供已配置的固定接触力。

10.根据权利要求5所述的方法，其进一步包括：移动所述接触臂以基于输入，向所述可疑材料和所述内反射元件提供可由用户选择的接触力。

11.根据权利要求5所述的方法，其进一步包括：在所述接触臂将所述接触力施加到所述可疑材料上之前进行初始扫描，其中如果信号符合预定水平，那么所述测量可以完成而不需要使用所述接触臂来施加另外的接触力。

12.根据权利要求5所述的方法，其进一步包括：在通过所述定时器测量的第二时间间隔之后从所述可疑材料中去除所述接触力，所述第二时间间隔在所述处理器分析过所述可疑材料的信息之后开始。

13.根据权利要求1所述的手持式内反射设备，其中所述定时器包括可编程定时器。

14.根据权利要求1所述的手持式内反射设备，其中所述时间间隔可由用户选择。

15.根据权利要求1所述的手持式内反射设备，其中所述可疑材料包括爆炸材料。