[发明专利]全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910056548.0 申请日: 2019-01-22
公开(公告)号: CN109712820B 公开(公告)日: 2020-02-18
发明(设计)人: 周大雨;孙纳纳;杨旭;马晓倩 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: H01G11/30 分类号: H01G11/30;H01G11/68;H01G11/26;H01G11/84;H01G11/86
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 李晓亮;潘迅
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 过渡 金属 氮化物 流体 电极 超级 电容器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器,其特征在于,所述的超级电容器结构为三明治结构、平面叉指结构或3D纳米结构,超级电容器的正、负两端可以采用对称式也可以采用非对称式结构;所述的对称式结构为电容器正、负两端均采用全过渡金属氮化物MN集流体/电极材料;非对称式结构为电容器正、负两端采用不同的材料,其中一端采用过渡金属氮化物集流体/电极材料,另一端采用常用的超级电容器电极和集流体材料;所述MN中的M为Ti、V、Ta、Mo或其他过渡金属中的一种或几种;所述的常用的超级电容器电极材料为碳材料、硅基材料、金属氧化物材料或导电聚合物;常用的集流体为金、铜、钛、铂或泡沫镍;

所述的全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器的制备方法,包括以下步骤:

步骤一:清洗衬底,除去表面的有机物、金属颗粒和其他杂质;所述的衬底采用Si、Ge、三五族半导体材料中的一种、玻璃或聚合物柔性基底;

步骤二:采用薄膜沉积工艺在衬底表面沉积全过渡金属氮化物MN集流体/电极材料:

采用物理气相沉积法在步骤一清洗后的衬底上沉积一层表面平滑、致密度高、电阻率低的MN薄膜作为集流体材料;再通过调整沉积工艺参数,改变薄膜表面原子扩散和形核生长机制,在集流体材料上继续生长一层表面粗糙、多孔、电阻率高的MN薄膜作为电极材料,在衬底表面沉积全MN集流体/电极材料;

所述的作为集流体材料的MN薄膜厚度为10~5000nm,电阻率<500μΩ·cm;所述的作为电极材料的MN薄膜厚度为10~5000nm,电阻率>1000μΩ·cm;

沉积集流体材料的工艺参数为:靶基距为10~100mm;Ar:N2=(10-60):(1-10)sccm;溅射功率:100-400W;基底温度为室温~400℃;工作气压为0.2~1.5Pa;基底偏压为-50~-400V;溅射时间:1-500min;

沉积电极材料的工艺参数为:靶基距为10~100mm;Ar:N2=(10-60):(1-10)sccm;溅射功率:100-400W;基底温度为室温~400℃;工作气压为0.4~1.5Pa;溅射时间:1-500min;

步骤三:制备超级电容器:

将步骤二制备得到的全MN集流体/电极材料作为超级电容器正极、负极或正负极,并添加电解质材料,制备对称式或非对称式的超级电容器;所述的超级电容器结构为三明治结构、平面叉指结构或3D纳米结构。

2.根据权利要求1所述的一种全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器的制备方法,其特征在于,所述步骤二还可以采用化学气相沉积CVD或原子层沉积ALD法,在清洗后的衬底表面沉积全MN集流体/电极材料。

3.根据权利要求1或2所述的一种全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器的制备方法,其特征在于,所述的全MN集流体/电极材料中除了存在M和N元素外,还含有O、Cl;所述电阻率低的MN薄膜M和N的原子百分数占薄膜总原子数的比例大于80%;所述电阻率高的MN薄膜M和N的原子百分比占薄膜总原子数的比例大于50%。

4.根据权利要求1或2所述的一种全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器的制备方法,其特征在于,所述的物理气相沉积法包括真空蒸镀、溅射镀膜、电弧等离子体镀。

5.根据权利要求3所述的一种全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器的制备方法,其特征在于,所述的物理气相沉积法包括真空蒸镀、溅射镀膜、电弧等离子体镀。

6.根据权利要求1或2或5所述的一种全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器的制备方法,其特征在于,所述三五族半导体为砷化镓;所述柔性基底为聚对苯二甲酸乙二醇酯PET、聚酰亚胺PI。

7.根据权利要求3所述的一种全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器的制备方法,其特征在于,所述三五族半导体为砷化镓;所述柔性基底为聚对苯二甲酸乙二醇酯PET、聚酰亚胺PI。

8.根据权利要求4所述的一种全过渡金属氮化物集流体/电极超级电容器的制备方法,其特征在于,所述三五族半导体为砷化镓;所述柔性基底为聚对苯二甲酸乙二醇酯PET、聚酰亚胺PI。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连理工大学,未经大连理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910056548.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top