[发明专利]小电阻元件电阻温度系数的测试装置及方法

权利要求书

1.一种小电阻元件电阻温度系数的测试装置，其特征在于，所述小电阻元件为用于集成电路中的元件；所述测试装置包括如下部件：

--导热块(3)，大致为立方体状，其内布置有温度检测装置(7)，其一侧面开有若干测试槽(9)；

--加热片(4)，贴合布置在所述导热块(3)下端面；

--制冷装置(2)，布置在所述导热块(3)上面；

--电阻采集装置(5)；

--电阻测试板(10)，其上有测试通孔(1002)，通过连接线(1001)与所述电阻采集装置(5)电连接；

--温度控制装置(6)，与所述温度检测装置(7)、加热片(4)和制冷装置(2)电连接；

-显示屏(8)，与上述各部件电连接。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述温度检测装置(7)的精度高于0.001℃；所述电阻采集装置(5)的精度高于10^-6Ω。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试通孔(1002)用来焊接待测小电阻元件的引脚。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述导热块(3)、加热片(4)和制冷装置(2)整体的除开有测试槽(9)外的其他侧面包覆有耐温保温绝缘材料。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试槽(9)为圆筒状、正方体状或三棱体状。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述的测试装置还包括外壳(1)，其他部件布置在所述外壳(1)内。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述导热块(3)为金属制成的块；所述加热片(4)为碳素纤维管制成的片；所述连接线(1001)为铜线。

8.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述导热块(3)为铜制成的块。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述温度检测装置(7)为热电偶。

10.一种使用权利要求1-9任一所述的测试装置测量小电阻元件电阻温度系数方法，步骤如下：将小电阻元件放置于测试槽(9)中，小电阻元件的引脚放入测试板(10)的测试通孔(1002)中焊接固定，通过测试板(10)上的连接铜线(1001)将小电阻元件与所述电阻采集装置(5)连接；在显示屏(8)上设定温度采集频率、保温时间、起始温度T₁、设定温度T₂；启动测试程序，加热片(4)发热并将热量传到导热块(3)上，继而将温度传到被测小电阻元件上，当温度一直恒定在目标温度时，电阻采集装置(5)自动采集到T₁对应的电阻值R₁和T₂对应的电阻值R₂；然后根据公式TCR(平均)＝(R₂-R₁)/(R₁*(T₂-T₁))＝(R₂-R₁)/(R₁*ΔT)计算出TCR即得到小电阻元件的电阻温度系数。