[发明专利]一种测试模式进入方法及系统

说明书

本申请公开了一种测试模式进入方法及系统，其中，所述测试模式进入方法设定了两个测试模式的进入条件，即在模拟单元接收的第一电压和第二电压满足第一预设条件，且所述数字单元接收到预设特征向量时，才使芯片进入测试模式，避免了芯片在正常工作过程中被误触发进入测试模式的情况出现，提高了芯片的工作稳定性。这是因为在芯片正常工作过程中，第一电压的正常取值范围是高于第二电压的正常取值范围的，不可能出现满足第一预设条件的情况；并且即使在第一电压和第二电压满足第一预设条件的情况下，还需要满足数字单元接收到预设特征向量才会使芯片进入测试模式，最大程度上杜绝了芯片在正常工作过程中被误触发的情况。

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，更具体地说，涉及一种测试模式进入方法及系统。

背景技术

芯片(Integrated Circuit，IC)，也称为集成电路，是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。

在芯片封装完成之后，出厂之前，还需要对芯片进行芯片测试，以计算芯片的参数，判断芯片是否合格。芯片测试是保证出厂的每一颗芯片都满足芯片的规格要求的必要手段。对于数模混合设计的芯片(即由模拟部分和数字部分构成的芯片)，在数字部分的规模达到一定程度之后，对于数字部分的设计需要进行扫描链测试，测试模式的进入需要测试机发送一个触发信号，以触发芯片进入扫描测试状态，此时数字部分的正常逻辑被旁路，以进行扫描链测试。

现有技术中的测试模式进入方法通常通过测试机向芯片发送使能信号的方式，实现芯片的测试模式的进入，但在芯片的正常工作过程中，容易出现与使能信号相同的工作信号，从而导致芯片被误触发进入测试模式，导致芯片无法正常工作。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请提供了一种测试模式进入方法及系统，以实现避免芯片在正常工作过程中出现被误触发而进入测试模式的情况的目的，提高了芯片的工作稳定性。

为实现上述技术目的，本申请实施例提供了如下技术方案：

一种测试模式进入方法，应用于芯片，所述芯片包括模拟单元和数字单元，所述模拟单元接收第一电压和第二电压，所述测试模式进入方法包括：

获取所述第一电压和所述第二电压；

判断所述第一电压和第二电压是否满足第一预设条件，如果是，则判断所述数字单元是否接收到预设特征向量，若是，则进入测试模式；

所述第一预设条件包括：所述第二电压包括多个连续的，且幅值超过所述第一电压的电压脉冲，且在多个所述电压脉冲后持续保持高电平。

可选的，所述第一预设条件包括：所述第二电压包括多个连续的，且幅值超过所述第一电压预设电压阈值，且持续时间超过预设时间阈值的电压脉冲，且在多个所述电压脉冲后持续保持高电平。

可选的，所述预设电压阈值的取值范围为0.8±0.1V。

可选的，所述预设时间阈值的取值范围为500±100ns。

可选的，所述进入测试模式之后还包括：

接收激励向量，并根据所述激励向量反馈测试向量，以使测试机根据所述测试向量判断所述芯片是否通过扫描链测试；

判断所述第二电压的幅值是否小于所述第一电压的幅值，如果是，则退出测试模式。

一种测试模式进入系统，应用于芯片，所述芯片包括模拟单元和数字单元，所述模拟单元接收第一电压和第二电压，所述测试模式进入系统包括：

电压获取模块，用于获取所述第一电压和所述第二电压；