[发明专利]一种全张量磁梯度测量组件的标定方法

权利要求书

1.一种全张量磁梯度测量组件的标定方法，其特征在于，所述标定方法包括：

搭建全张量磁梯度测量组件标定系统，所述标定系统包括：激励源，用于提供激励信号；标定源，电连接于所述激励源，用于在所述激励源的驱动下产生标定磁场；无磁转台，设于所述标定源的下方，用于对所述标定源进行角度调整；安装支架，设于所述标定源的一侧，用于提供安装平台；全张量磁梯度测量组件，设于所述安装支架上，用于测量所述标定源在所述全张量磁梯度测量组件处产生的磁场梯度值；测控组件，电连接于所述全张量磁梯度测量组件，用于采集所述磁场梯度值并进行存储；姿态调整装置，设于所述标定源的一侧，用于固定所述安装支架，并通过对所述安装支架进行定点转动以对所述全张量磁梯度测量组件进行姿态调整；

通过所述激励源驱动所述标定源产生标定磁场，并对所述标定源进行角度调整，以使所述标定源的磁矩与水平面垂直，此时测量所述标定源的工作电流及所述标定源与所述全张量磁梯度测量组件的空间位置关系，从而获取所述标定源在所述全张量磁梯度测量组件处产生的磁场梯度理论值；

通过所述姿态调整装置定点转动所述全张量磁梯度测量组件，以测量所述标定源在所述全张量磁梯度测量组件处不同姿态下的磁场梯度测量值；

根据所述全张量磁梯度测量组件的物理构型建立理论模型，并根据所述磁场梯度理论值及全张量几何不变量获取标定理论值；

根据所述理论模型建立关于结构安装误差及灵敏度误差系数的误差模型，并根据多组所述磁场梯度测量值及所述全张量几何不变量获取多组标定测量值；

根据所述标定理论值及多组所述标定测量值获取结构安装误差及灵敏度误差系数，以完成所述全张量磁梯度测量组件的标定。

2.根据权利要求1所述的全张量磁梯度测量组件的标定方法，其特征在于，所述全张量磁梯度测量组件包括：至少一个磁强计。

3.根据权利要求1所述的全张量磁梯度测量组件的标定方法，其特征在于，所述安装支架包括低温容器，用于为所述全张量磁梯度测量组件提供安装平台，同时为所述全张量磁梯度测量组件提供低温环境。

4.根据权利要求3所述的全张量磁梯度测量组件的标定方法，其特征在于，所述全张量磁梯度测量组件包括：至少一个平面梯度计。

5.根据权利要求3所述的全张量磁梯度测量组件的标定方法，其特征在于，所述低温容器包括低温杜瓦。

6.根据权利要求1所述的全张量磁梯度测量组件的标定方法，其特征在于，所述姿态调整装置包括：水平移动组件，设于所述水平移动组件上的高度调节组件，及设于所述高度调节组件远离所述水平移动组件一端的姿态调整组件；其中，所述姿态调整组件用于固定所述安装支架，并通过对所述安装支架进行转动以实现对所述全张量磁梯度测量组件进行姿态调整；所述高度调节组件用于固定所述姿态调整组件，并对所述姿态调整组件进行高度调节以实现对所述全张量磁梯度测量组件的高度调节；所述水平移动组件用于对所述姿态调整装置进行水平移动以实现对所述全张量磁梯度测量组件的水平移动。

7.根据权利要求6所述的全张量磁梯度测量组件的标定方法，其特征在于，所述姿态调整装置还包括：设于所述安装支架下方的支撑组件，用于对调整后的所述安装支架进行支撑。

8.根据权利要求1所述的全张量磁梯度测量组件的标定方法，其特征在于，所述激励源包括恒压源或恒流源。

9.根据权利要求1所述的全张量磁梯度测量组件的标定方法，其特征在于，所述标定源包括标准磁偶极子或麦克斯韦线圈。