[发明专利]一种混合电路中存储器芯片的测试装置

权利要求书

1.一种混合电路中存储器芯片的测试装置，其特征在于，包括内建自测试电路和总线复用电路；

所述内建自测试电路和总线复用电路设置在主控协议芯片上；

所述内建自测试电路通过测试模式控制总线、测试模式地址总线和测试模式数据总线连接总线复用电路；

所述主控协议芯片还包括功能存储器控制器，功能存储器控制器通过功能模式控制总线、功能模式地址总线和功能模式数据总线连接总线复用电路；

所述主控协议芯片的控制总线连接存储器芯片的控制端口，主控协议芯片的数据总线连接存储器芯片的数据端口，主控协议芯片的地址总线连接存储器芯片的地址端口；

所述主控协议芯片的输出数据总线连接存储器芯片的输出数据端口；

所述内建自测试电路和功能存储器控制器通过输出数据总线读取存储器芯片上的数据；

所述内建自测试电路包括BIST控制器，BIST控制器连接比较器，比较器读取存储器芯片上的数据；BIST控制器交互连接诊断器，诊断器对失效的存储器芯片进行诊断定位，并输出诊断数据；所述BIST控制器产生测试激励并发送给待测的存储器芯片；

所述总线复用电路获取功能模式存储器控制信号和测试模式存储器控制信号并输出存储器控制信号，获取功能模式存储器地址信号和测试模式存储器地址信号输出存储器地址信号，获取功能模式存储器数据信号和测试模式存储器数据信号输出存储器数据信号。

2.根据权利要求1所述的一种混合电路中存储器芯片的测试装置，其特征在于，所述比较器将获取的存储器芯片的数据与期望数据进行对比，并产生表征存储器测试结果的测试失效标志。

3.根据权利要求1所述的一种混合电路中存储器芯片的测试装置，其特征在于，所述BIST控制器还获取测试启动信号，并输出测试结束标志。

4.根据权利要求1所述的一种混合电路中存储器芯片的测试装置，其特征在于，所述测试激励包括存储器控制测试激励、存储器地址测试激励和存储器写数据测试激励。

5.根据权利要求1所述的一种混合电路中存储器芯片的测试装置，其特征在于，待测存储器获取存储器控制信号、存储器地址信号和存储器数据信号。