[发明专利]显示装置以及显示系统

说明书

本发明提供成为简单的结构而使像素元件驱动，并能够容易地进行显示确认的显示装置以及显示系统。具备多个具有像素元件的像素部并向多个像素部输入图像显示用信号的显示装置具备测试用终端，该测试用终端对图像显示用信号、与从外部输入的测试用信号进行选择并向多个像素部输入。具备多个具有像素元件的像素部并设置有向多个像素部输入图像显示用信号的驱动器电路部的显示装置具备测试用终端，该测试用终端对图像显示用信号、与从外部输入的测试用信号进行选择并向多个像素部输入，或者驱动器电路部通过从外部输入的测试用信号，而产生测试信号，并向多个像素部输入。

技术领域

本发明涉及显示装置以及显示系统。

背景技术

在显示装置中，例如驱动器电路部将从外部输入的图像数据在多个像素部转换为图像显示用信号，利用驱动电路使多个像素驱动而显示图像。这样的显示装置例如使驱动像素元件的驱动电路与像素元件一体形成，并在后工序中搭载驱动器电路部。该情况下，分别独立地实施搭载了驱动电路的显示装置和驱动器电路部是否合格的优劣测试，其后，在搭载了驱动电路的显示装置搭载驱动器电路部。而且，作为最终确认，使用从外部输入的图像数据和驱动器电路部进行各像素元件的显示确认测试。即，通过使驱动器电路部动作，来进行各像素元件的显示确认测试。

现有技术文献

专利文件

专利文献1：日本特开2015-59781号公报

发明内容

本发明所要解决的技术问题

然而，在这样的显示装置中，若驱动器电路部未正常动作，则无法进行各像素元件的显示确认测试。即，在进行了各像素元件的显示确认测试时未进行各像素元件想要的动作的情况下，无法确定出像素元件侧有不良状况还是驱动器电路部或驱动电路侧有不良状况。

关于这一点，专利文献1公开有通过利用了PL(光致发光)的PL检查法来判定不良状况的技术。然而，在专利文献1所记载的技术中，需要LED光源、电源、拍摄部之类的结构，用于判定不良状况的结构复杂化。

例如，对于驱动器电路部和驱动像素元件的驱动电路(例如相同基板具体而言硅基板上的电路，以下有时仅记载为LSI。)形成为一体的一个芯片或在后工序中搭载且像素元件在后工序中贴合的显示装置而言，在LSI状态下对驱动器电路部和驱动像素元件的驱动电路以芯片单体进行动作测试较为困难。因此，需要在后工序中使像素元件贴合后进行各像素的显示确认。此时，需要驱动器电路部和驱动像素元件的驱动电路的不良状况的切开，为了进行显示确认测试需要使驱动器电路部动作。

进一步而言，在LSI的状态下，需要在以多个存在的像素为单位的像素元件连接而成的端子准备测试用的探测器，驱动像素元件的驱动电路的测试复杂且需要多个探测器，因此测试成本高。

例如，在使像素元件(具体而言LED)贴合于LSI的情况下，为了进行像素元件的显示确认测试，需要通过从外部输入的图像数据使驱动器电路部动作而进行显示确认测试，为此需要能够输入图像数据的高价的测试设备，花费成本。另外，图像数据的输入使用以MIPI(注册商标)(Mobile Industry Processor Interface)为代表那样的串行数据输入，因此数据输入需要多个时钟，从而测试时间变长，产生TAT(Turn Around Time)的长期化、测试成本的增加的课题。

另外，在贴合工序以后的每个工序的完成情况确认时每次使用高价的测试器，且进行像素元件的显示确认测试花费费用且麻烦，从而不现实。

因此，本发明的目的在于提供能够成为简单的结构而使像素元件驱动，并容易地进行显示确认的显示装置以及显示系统。

解决问题的手段

为了解决上述课题，提供以下的第一方式～第三方式的显示装置以及显示系统。