[发明专利]一种AEP内存变模式压测方法及系统在审

专利信息
申请号: 201910064846.4 申请日: 2019-01-23
公开(公告)号: CN109918253A 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 范鹏飞;贠雄斌 申请(专利权)人: 郑州云海信息技术有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 刘雪萍
地址: 450000 河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 内存 内存模式 测试项 测试 队列 存储 创建 保证
【权利要求书】:

1.一种AEP内存变模式压测方法,其特征在于,包括以下步骤:

确定AEP内存模式测试项,并确定压测模式;

依据AEP内存模式测试项创建测试队列,并将AEP内存模式测试项存储至所述测试队列;

依据所述压测模式对测试队列中的AEP内存模式测试项进行测试。

2.根据权利要求1所述的AEP内存变模式压测方法,其特征在于,所述确定AEP内存模式测试项,并确定压测模式之前还包括:

配置AEP内存驱动。

3.根据权利要求1所述的AEP内存变模式压测方法,其特征在于,所述AEP内存模式测试项包括:

MEMORY MODE;

APD MODE;

MIX MODE;

所述压测模式为:

循环串行测试模式。

4.根据权利要求3所述的AEP内存变模式压测方法,其特征在于,依据所述压测模式对测试队列中的AEP内存模式测试项进行测试具体包括:

通过memte st er工具对MEMORY MODE下的AEP内存进行压测;

通过fi o工具对APD MODE下的AEP内存进行压测;

通过memt es ter工具对MIX MODE下AEP内存的内存模块进行压测,并通过fi o工具对MIX MODE下AEP内存的硬盘模块进行压测。

5.一种AEP内存变模式压测系统,其特征在于,包括以下模块:

测试定义模块,用于确定AEP内存模式测试项,并确定压测模式;

测试队列确定模块,用于依据AEP内存模式测试项创建测试队列,并将AEP内存模式测试项存储至所述测试队列;

压测模块,用于依据所述压测模式对测试队列中的AEP内存模式测试项进行测试。

6.根据权利要求5所述的AEP内存变模式压测系统,其特征在于,还包括:

AEP内存配置模块,

用于配置AEP内存驱动。

7.根据权利要求5所述的AEP内存变模式压测系统,其特征在于,所述AEP内存模式测试项包括:

MEMORY MODE;

APD MODE;

MIX MODE;

所述压测模式为:

循环串行测试模式。

8.根据权利要求7所述的AEP内存变模式压测系统,其特征在于,压测模块具体用于:

通过memte st er工具对MEMORY MODE下的AEP内存进行压测;

通过fi o工具对APD MODE下的AEP内存进行压测;

通过memt es ter工具对MIX MODE下AEP内存的内存模块进行压测,并通过fi o工具对MIX MODE下AEP内存的硬盘模块进行压测。

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