[发明专利]一种AEP内存变模式压测方法及系统在审
申请号: | 201910064846.4 | 申请日: | 2019-01-23 |
公开(公告)号: | CN109918253A | 公开(公告)日: | 2019-06-21 |
发明(设计)人: | 范鹏飞;贠雄斌 | 申请(专利权)人: | 郑州云海信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 刘雪萍 |
地址: | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 内存 内存模式 测试项 测试 队列 存储 创建 保证 | ||
1.一种AEP内存变模式压测方法,其特征在于,包括以下步骤:
确定AEP内存模式测试项,并确定压测模式;
依据AEP内存模式测试项创建测试队列,并将AEP内存模式测试项存储至所述测试队列;
依据所述压测模式对测试队列中的AEP内存模式测试项进行测试。
2.根据权利要求1所述的AEP内存变模式压测方法,其特征在于,所述确定AEP内存模式测试项,并确定压测模式之前还包括:
配置AEP内存驱动。
3.根据权利要求1所述的AEP内存变模式压测方法,其特征在于,所述AEP内存模式测试项包括:
MEMORY MODE;
APD MODE;
MIX MODE;
所述压测模式为:
循环串行测试模式。
4.根据权利要求3所述的AEP内存变模式压测方法,其特征在于,依据所述压测模式对测试队列中的AEP内存模式测试项进行测试具体包括:
通过memte st er工具对MEMORY MODE下的AEP内存进行压测;
通过fi o工具对APD MODE下的AEP内存进行压测;
通过memt es ter工具对MIX MODE下AEP内存的内存模块进行压测,并通过fi o工具对MIX MODE下AEP内存的硬盘模块进行压测。
5.一种AEP内存变模式压测系统,其特征在于,包括以下模块:
测试定义模块,用于确定AEP内存模式测试项,并确定压测模式;
测试队列确定模块,用于依据AEP内存模式测试项创建测试队列,并将AEP内存模式测试项存储至所述测试队列;
压测模块,用于依据所述压测模式对测试队列中的AEP内存模式测试项进行测试。
6.根据权利要求5所述的AEP内存变模式压测系统,其特征在于,还包括:
AEP内存配置模块,
用于配置AEP内存驱动。
7.根据权利要求5所述的AEP内存变模式压测系统,其特征在于,所述AEP内存模式测试项包括:
MEMORY MODE;
APD MODE;
MIX MODE;
所述压测模式为:
循环串行测试模式。
8.根据权利要求7所述的AEP内存变模式压测系统,其特征在于,压测模块具体用于:
通过memte st er工具对MEMORY MODE下的AEP内存进行压测;
通过fi o工具对APD MODE下的AEP内存进行压测;
通过memt es ter工具对MIX MODE下AEP内存的内存模块进行压测,并通过fi o工具对MIX MODE下AEP内存的硬盘模块进行压测。
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