[发明专利]光电二极管有效
申请号: | 201910066828.X | 申请日: | 2019-01-24 |
公开(公告)号: | CN109817755B | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | 侯孟军 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/0304 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电二极管 | ||
本申请提供一种光电二极管,所述光电二极管包括衬底、形成于所述衬底上的窗口层、形成于所述窗口层上的具有第一导电类型的第一导电层、形成于所述第一导电层上的吸收层、形成于所述吸收层上的具有第一导电类型的组分渐变层、形成于所述组分渐变层上的倍增层及形成于所述倍增层上的具有第二导电类型的第二导电层。其中,所述衬底的生长方向为[0001]方向,沿由下至上的方向,所述组分渐变层的禁带宽度逐渐减小,所述倍增层的禁带宽度大于所述组分渐变层的禁带宽度的最小值。
技术领域
本申请涉及半导体技术领域,特别涉及一种光电二极管。
背景技术
紫外探测技术是光电探测领域比较重要的技术,在高压输电线检测、气象预警、火灾预警等领域具有重要的应用前景。由GaN、AlN及由Al、Ga、N形成的三元化合物制备的雪崩光电二极管在进行紫外探测时灵敏度及稳定性均较高,得到了广泛的应用。
但是由GaN、AlN及由Al、Ga、N形成的三元化合物制备的雪崩光电二极管存在雪崩电压高、雪崩噪声大的问题。
发明内容
本申请实施例提供了一种光电二极管,所述光电二极管包括:
衬底,所述衬底的生长方向为[0001]方向;
形成于所述衬底上的窗口层;
形成于所述窗口层上的具有第一导电类型的第一导电层;
形成于所述第一导电层上的吸收层;
形成于所述吸收层上的具有第一导电类型的组分渐变层,沿由下至上的方向,所述组分渐变层的禁带宽度逐渐减小;
形成于所述组分渐变层上的倍增层,所述倍增层的禁带宽度大于所述组分渐变层的禁带宽度的最小值;
形成于所述倍增层上的具有第二导电类型的第二导电层。
在一个实施例中,所述组分渐变层的禁带宽度的最大值大于所述吸收层的禁带宽度。
在一个实施例中,所述窗口层、所述第一导电层、所述吸收层、所述组分渐变层、所述倍增层及所述第二导电层的材质分别为由Al、Ga和N形成的三元化合物或二元化合物。
在一个实施例中,所述组分渐变层的材质为AlyGa1-yN,0y1,所述组分渐变层中,沿由下至上的方向,y的值逐渐减小。
在一个实施例中,所述吸收层的材质为AlbGa1-bN,其中b=ymax-z,且b=ymin+z,0z0.1。
在一个实施例中,所述倍增层的材质为AlbGa1-bN,其中b=ymax-z,且b=ymin+z,0z0.1。
在一个实施例中,所述第一导电层包括具有第一导电类型的第一子导电层和形成于所述第一子导电层上具有第一导电类型的第二子导电层,所述第一子导电层的材质为AlaGa1-aN,其中,ba1;
所述第二子导电层的材质为AlxGa1-xN,所述第二子导电层中,沿由下至上的方向,x的值逐渐减小,且xmax=a,xmin=b;
所述第二子导电层的厚度为40nm-60nm,电子浓度为1×1018cm-3~5×1018cm-3。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的