[发明专利]显示面板、制备方法、检测方法及显示装置有效

专利信息
申请号: 201910066910.2 申请日: 2019-01-24
公开(公告)号: CN109697938B 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 包征;孙世成;陈功;张祎杨;辛燕霞;李雪萍;胡红伟;吴奕昊 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: G09F9/30 分类号: G09F9/30;G02F1/1362;H01L27/32;G01R31/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 郭润湘
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 制备 方法 检测 显示装置
【说明书】:

发明公开了一种显示面板、制备方法、检测方法及显示装置,通过在检测信号线和对应的驱动信号线之间设置检测晶体管,并且通过设置第一开关晶体管以控制所有检测晶体管在点灯检测阶段导通,以将点灯检测信号提供给显示区点亮显示面板。在信赖性检测阶段,通过第三控制信号线加载的信号控制所有检测晶体管截止,以将检测信号线与驱动信号线通过检测晶体管隔断开,从而可以避免由于检测信号线腐蚀位置的延伸影响驱动信号线中信号的传输,进而避免显示异常。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种显示面板、制备方法、检测方法及显示装置。

背景技术

随着显示面板生产技术的发展,目前已进入大规模自动化生产时代。在显示面板制造出来后,显示面板可能会存在缺陷,因此需要对显示面板的质量进行检测。为了避免成本增加,因此会在显示面板组装驱动IC(Integrated Circuit,集成电路)、PCB(PrintedCircuit Board,印制电路板)、FPC(Flexible Printed Circuit,柔性电路板)之前,对其进行点灯测试。点灯测试阶段对应的显示面板的结构,如图1所示,可以包括,衬底基板100、用于向显示区AA输入驱动信号的多条驱动信号线110、与驱动信号线110一一对应电连接的驱动端子111,用于输入点灯检测信号的多条检测信号线120,以及与检测信号线120一一对应电连接的检测端子121。并且,一条驱动信号线110对应连接一条检测信号线120。在点灯测试阶段中,通过使检测信号线120电连接的检测端子121与点灯治具电连接,以对检测信号线120输入点灯检测信号,从而控制显示区AA进行点亮,以检测显示面板是否存在不良。若点灯检测阶段未发现不良,则根据切割线CG对衬底基板100进行切割,以将检测端子121去除,如图2所示。之后,将图2所示的显示面板中的驱动端子111通过FPC与驱动IC、PCB等元件进行电连接,以将显示面板与驱动IC、FPC、PCB等元件进行组装。

由于显示面板可能会在某些特殊环境(例如高温高湿度环境)中工作,因此在组装驱动IC、FPC、PCB后,还需要在一定温度和一定湿度下对显示面板进行信赖性测试,以检测显示面板与驱动IC、FPC、PCB之间的信号传输是否存在不良,进一步确保显示面板的品质。然而,由于上述切断并不能完全将检测信号线120去除掉,因此,会导致残留一部分检测信号线120。而该残留的检测信号线120与衬底基板100边缘齐平,从而导致残留的检测信号线120可以直接接触到水氧。这样在对显示面板进行信赖性测试时,会导致残留的检测信号线120发生腐蚀现象。并且,随着水氧不断进入,腐蚀位置也会不断延伸,当腐蚀位置延伸到检测信号线120与驱动信号线110的连接处时,会影响驱动信号线110中电信号的传输,从而导致显示异常等问题。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板、制备方法、检测方法及显示装置,用以避免腐蚀对显示面板的影响。

本发明实施例提供了一种显示面板,包括:衬底基板、位于所述衬底基板上用于向所述显示面板的显示区输入驱动信号的多条驱动信号线,以及与各所述驱动信号线一一对应电连接的检测信号线,所述显示面板还包括:第一开关晶体管、第一控制信号线、第二控制信号线、第三控制信号线、以及与各所述检测信号线一一对应的检测晶体管;其中,各所述检测信号线通过对应的所述检测晶体管与对应的驱动信号线电连接;

所述第一开关晶体管的栅极与所述第一控制信号线电连接,所述第一开关晶体管的第一极与所述第二控制信号线电连接,所述第一开关晶体管的第二极分别与所述第三控制信号线以及所有检测晶体管的栅极电连接。

可选地,在本发明实施例中,所述显示面板还包括:第二开关晶体管、第四控制信号线以及第五控制信号线;所述第一开关晶体管的第二极通过所述第二开关晶体管与各所述检测晶体管的栅极电连接;

所述第二开关晶体管的栅极分别与所述第一开关晶体管的第二极以及所述第四控制信号线电连接,所述第二开关晶体管的第一极与所述第五控制信号线电连接,所述第二开关晶体管的第二极分别与各所述检测晶体管的栅极电连接。

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