[发明专利]一种多光谱紫外成像光学性能检测系统和检测方法在审
申请号: | 201910068951.5 | 申请日: | 2019-01-24 |
公开(公告)号: | CN109799072A | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 骆丽;杨青;龚金龙;顾冰;王异凡;陶定峰;王尊;王一帆;郭振梁 | 申请(专利权)人: | 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 浙江翔隆专利事务所(普通合伙) 33206 | 代理人: | 张建青 |
地址: | 310014 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学性能检测 平行光管 折返式 多光谱光学系统 紫外成像 多光谱 多谱段 多维度 光源 光学系统 转台 光路 反光镜 曲率 红外波段 同一系统 性能检测 双光路 检测 多面 射出 转动 平行 成熟 | ||
1.一种多光谱紫外成像光学性能检测系统,包括一个多谱段光源、一个平行光管和一个多维度转台,其特征在于,所述的多谱段光源包含紫外、可见和红外波段的光;所述的平行光管内部使用折返式光学系统,用于实现折返式光路,所述的折返式光学系统包括位于平行光管内部两侧的多面曲率不同反光镜,多谱段光源发出的光线进入平行光管内,经折返式光路后平行射出,所述的多维度转台置于平行光管前端,实现多维度转动。
2.根据权利要求1所述的多光谱紫外成像光学性能检测系统,其特征在于,所述多谱段光源的波段在250-1100nm。
3.根据权利要求2所述的多光谱紫外成像光学性能检测系统,其特征在于,所述的多谱段光源为氙灯,该光源与太阳光谱接近。
4.根据权利要求1-3任一项所述的多光谱紫外成像光学性能检测系统,其特征在于,还包括校验处理系统,用于计算待测紫外成像仪的紫外光与可见光或红外光的重合度。
5.根据权利要求1-3任一项所述的多光谱紫外成像光学性能检测系统,其特征在于,还包括星点板和分辨率板,星点板或分辨率板置于平行光管焦面上。
6.根据权利要求1-3任一项所述的多光谱紫外成像光学性能检测系统,其特征在于,待测紫外成像仪置于多维度转台上,多维度转台能上下调节、水平360度调节和0-90度垂直调节,每个维度都有标尺,通过支杆手动调节或微调。
7.采用权利要求1-6任一项所述多光谱紫外成像光学性能检测系统的检测方法,其特征在于,用于检测双光路系统重合度的步骤如下:利用平行光管来模拟无穷远的点目标,通过光源照亮平行光管焦面上的星点板,经星点板发出的光经过平行光管后变为平行光;将待测紫外成像仪放置于平行光管前接受平行光管射出的平行光,平行光管焦面上的星点板将会在待测紫外成像仪的像面上成像为一个亮的光斑,分别在待测紫外成像仪的可见光模式、紫外光模式下对同一目标进行成像,再计算两个不同模式下成像光斑中心位置偏差,即获得紫外光与可见光的重合度。
8.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,具体过程如下:
1)将待测紫外成像仪放置于平行光管前,开启多光谱紫外成像光学性能检测系统;
2)调节待测紫外成像仪对焦方式至对无穷远对焦,调节紫外通道增益至合适值;使其紫外通道能够对平行光管发出的紫外信号成像且同时光斑最小;
3)调节多维度转台,使得光斑位于画面中心;
4)使用待测紫外成像仪分别拍摄可见通道与紫外通道图像;
5)调节多维度转台,使得光斑分别位于画面各边中心或顶角,并使用待测紫外成像仪分别拍摄可见通道与紫外通道图像;
6)将待测紫外成像仪拍摄的图像导出至校验处理系统,计算得到该待测紫外成像仪的紫外光与可见光的重合度,并依据模板自动生成检验报告。
9.采用权利要求1-6任一项所述多光谱紫外成像光学性能检测系统的检测方法,其特征在于,用于检测多波段光学系统分辨率的步骤如下:利用平行光管来模拟无穷远的点目标,通过光源照亮平行光管焦面上的分辨率板,将待测紫外成像仪置于平行光管出光口处,通过待测紫外成像仪对分辨率所成的像,测试待测紫外成像仪在不同波段处的分辨率。
10.采用权利要求1-6任一项所述多光谱紫外成像光学性能检测系统的检测方法,其特征在于,用于检测多波段光学系统角度的步骤如下:利用平行光管来模拟无穷远的点目标,通过多维度转台旋转,使光源置于成像面边缘,通过查看多维度转台旋转的角度,计算不同光谱视场的角度。
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