[发明专利]一种集成分光探测功能的可调光衰减装置以及系统

说明书

本发明涉及光学器件领域，具体涉及一种集成分光探测功能的可调光衰减装置以及系统，可调光衰减装置包括腔体、输入光纤、反射镜、分光镜、光电探测器以及输出光纤，输入光纤和输出光纤设在腔体内部，光信号经过输入光纤的传输后射向反射镜，反射镜将光信号反射到分光镜，分光镜将光信号分为两束光信号，其中一束光信号射向光电探测器，由光电探测器检测光功率，另外一束光信号射回反射镜，反射镜将光信号反射到输出光纤，由输出光纤输出光信号。在实现光衰减的同时能够实现光功率的检测，从而可对输入的光信号进行调节，提升对光功率衰减的精度控制水平；并且，各个器件能够集成设置，大大缩小了体积。

技术领域

本发明涉及光学器件领域，具体涉及一种集成分光探测功能的可调光衰减装置以及系统。

背景技术

光衰减器是一种非常重要的纤维光学无源器件，它可按用户的要求将光信号能量进行预期地衰减，常用于吸收或反射掉光功率余量、评估系统的损耗及各种测试中。目前，系列化光衰减器已广泛应用于光通信领域，给用户带来了极大的方便。

但是，现有集成分光探测功能的光衰减器主要有两种，第一种为两个分离器件通过光纤串联在一起，可参考图1：光通过光纤1输入到跳线2的输入端后，透镜3表面镀有一层分光膜，一束光从透镜3中射出，再进入光电探测4，实现功率检测，另一束光从透镜3中反射到跳线2，再经过跳线2的输出端，并通过光纤1发射到下一跳线5的输入端，经过另一透镜6，并入射到MEMS 镜像芯片7中，MEMS镜像芯片7将光反射回透镜6，透镜6再经过跳线5的输出端，并通过光纤1进行光输出。但是，该种光衰减器是通过多个器件串联实现，整体体积较大，在应用环境上存在局限性。

第二种为挡光式光衰减器，可以参考图2，入射光纤10a输出的光线经过 MEMS挡光衰减芯片20，输出到透镜30，透镜30上镀有分光膜30a，光线经过 30a之后，分成了两束光，一部分光线反射回光纤10b，另外一束透射至光电转换器40上，其中衰减芯片20实现了光的衰减控制，光电探测器40实现了对入射光光功率的探测。但是，该种光衰减器通常采用热驱动，稳定性较差。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种集成分光探测功能的可调光衰减装置以及系统，解决现有光衰减器需要多个器件串联组成，集成性差并且体积较大的问题。

为解决该技术问题，本发明提供一种集成分光探测的可调光衰减装置，所述可调光衰减装置包括腔体、输入光纤、反射镜、分光镜、光电探测器以及输出光纤，所述输入光纤和输出光纤设在腔体内部，光信号经过输入光纤的传输后射向反射镜，所述反射镜将光信号反射到分光镜，所述分光镜将光信号分为两束光信号，其中一束光信号射向光电探测器，由光电探测器检测光功率，另外一束光信号射回反射镜，所述反射镜将光信号反射到输出光纤，由输出光纤输出光信号。

其中，较佳方案是：所述可调光衰减装置还包括MEMS芯片，所述反射镜设在MEMS芯片的表面。

其中，较佳方案是：所述可调光衰减装置还包括第一透镜，光信号经过输入光纤的传输后射向第一透镜，并经第一透镜射向反射镜；射回反射镜的光信号经过反射镜的反射后射向第一透镜，并经第一透镜射向输出光纤。

其中，较佳方案是：所述反射镜与第一透镜的轴线呈锐角。

其中，较佳方案是：所述腔体的表面与所述第一透镜的表面平行，所述输入光纤射出的光信号射入第一透镜。

其中，较佳方案是：所述可调光衰减装置还包括第二透镜，所述第二透镜与光电探测器邻近设置，通过分光镜的光信号先经过第二透镜再射向光电探测器。

其中，较佳方案是：所述分光镜设置在第二透镜的表面。

其中，较佳方案是：所述腔体为毛细管。