[发明专利]湿度测量方法及装置

权利要求书

1.一种湿度测量装置，其特征在于，包括第一印刷电路板和第一电子设备，所述第一印刷电路板包括第一金属件和第二金属件，所述第一金属件和所述第二金属件间隔设置在所述第一印刷电路板上，以形成第一电容，所述第一金属件和所述第二金属件分别与所述第一电子设备电连接；

所述第一电子设备中预存有湿度映射表，所述湿度映射表中包括与各相对介电常数分别对应的湿度值，所述第一电子设备用于测量所述第一电容的电容值，基于所述第一电容的电容值进行运算，获得与所述第一电容的电容值对应的相对介电常数，在所述湿度映射表中，查找并获得与所述相对介电常数对应的湿度值。

2.根据权利要求1所述的湿度测量装置，其特征在于，所述第一电子设备分别与所述第一金属件和所述第二金属件电连接，以测量所述第一金属件和所述第二金属件所形成的所述第一电容的电容值。

3.根据权利要求1所述的湿度测量装置，其特征在于，所述第一金属件和第二金属件以第一间隔距离间隔设置在所述第一印刷电路板上，所述第一金属件和所述第二金属件为金属走线；

所述第一电子设备用于基于所述第一电容的电容值、所述第一间隔距离以及所述第一电容的板间面积，使用电容计算公式进行计算，获得与所述第一电容的电容值对应的相对介电常数。

4.根据权利要求3所述的湿度测量装置，其特征在于，所述电容计算公式为：

其中，C为测量到的所述第一电容的电容值，ε为所述相对介电常数，ε₀为真空介电常数，S为所述第一电容的板间面积，D为所述第一间隔距离。

5.根据权利要求1所述的湿度测量装置，其特征在于，所述第一金属件和所述第二金属件上涂抹有高分子感湿材料。

6.一种湿度测量方法，其特征在于，应用于与第一印刷电路板电连接的第一电子设备，所述第一印刷电路板包括第一金属件和第二金属件，所述第一金属件和所述第二金属件间隔设置在所述第一印刷电路板上，以形成第一电容，所述第一电子设备中预存有湿度映射表，所述湿度映射表中包括与各相对介电常数分别对应的湿度值，所述方法包括：

测量所述第一电容的电容值；

基于所述第一电容的电容值进行运算，获得与所述第一电容的电容值对应的相对介电常数；

在所述湿度映射表中，查找并获得与所述相对介电常数对应的湿度值。

7.一种湿度测量装置，其特征在于，包括第二印刷电路板和第二电子设备，所述第二印刷电路板与所述第二电子设备电连接，所述第二电子设备中预存有湿度映射表；

所述第二印刷电路板包括第三金属件、第四金属件、第五金属件和第六金属件，所述第三金属件和所述第四金属件间隔设置在所述第二印刷电路板的第一表面上，以形成第二电容，所述第五金属件和所述第六金属件间隔设置在所述第二印刷电路板的第二表面上，以形成第三电容，所述第二电容与所述第三电容并联，所述第二电容与所述第三电容分别与所述第二电子设备电连接；

所述第二电子设备，用于分别测量并联后的所述第二电容和所述第三电容的并联电容值，并基于所述并联电容值进行运算，获得与所述并联电容值对应的相对介电常数，在所述湿度映射表中，查找并获得与所述相对介电常数对应的湿度值。

8.根据权利要求7所述的湿度测量装置，其特征在于，所述第三金属件和所述第四金属件以第二间隔距离间隔设置在所述第二印刷电路板的第一表面上，所述第五金属件和所述第六金属件以第三间隔距离间隔设置在所述第二印刷电路板的第二表面上；

所述第三金属件、所述第四金属件、所述第五金属件和所述第六金属件为金属走线；

所述第二电子设备，用于使用电容计算公式，基于所述并联电容值、所述第二间隔距离、所述第三间隔距离、所述第二电容的板间面积和所述第三电容的板间面积进行运算，获得与所述并联电容值对应的相对介电常数。

9.根据权利要求7所述的湿度测量装置，其特征在于，所述第三金属件、所述第四金属件、所述第五金属件和所述第六金属件上涂抹有高分子感湿材料。

10.一种湿度测量方法，其特征在于，应用于与第二印刷电路板电连接的第二电子设备，所述第二印刷电路板包括第三金属件、第四金属件、第五金属件和第六金属件，所述第三金属件和所述第四金属件间隔设置在所述第二印刷电路板的第一表面上，以形成第二电容，所述第五金属件和所述第六金属件间隔设置在所述第二印刷电路板的第二表面上，以形成第三电容，所述第二电容与所述第三电容并联，所述第二电子设备中预存有湿度映射表，所述湿度映射表中包括与各相对介电常数分别对应的湿度值，所述方法包括：

测量并联后的所述第二电容和所述第三电容的并联电容值；

基于所述并联电容值进行运算，获得与所述并联电容值对应的相对介电常数；

在所述湿度映射表中，查找并获得与所述相对介电常数对应的湿度值。