[发明专利]自适应支付处理系统在审

专利信息
申请号: 201910071725.2 申请日: 2019-01-25
公开(公告)号: CN111489152A 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 杨郭英 申请(专利权)人: 杨郭英
主分类号: G06Q20/38 分类号: G06Q20/38;G06Q20/40
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 224000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 自适应 支付 处理 系统
【权利要求书】:

1.一种自适应支付处理系统,其特征在于,包括:

密码输入设备,设置在电子支付终端上,用于在启动电子支付时接收用户输入的预设位数的多位数字密码;

系数检测设备,设置在电子支付终端上,用于在启动电子支付时基于脸部成像特征对前端用户图像进行脸部检测,以获得对应的脸部区域并将所述脸部区域的长宽比作为运算系数输出。

2.如权利要求1所述的自适应支付处理系统,其特征在于,所述系统还包括:

密钥生成设备,分别与所述密码输入设备和所述系数检测设备连接,用于将所述预设位数的多位数字密码与所述运算系数进行相乘运算,以获得实时密钥。

3.如权利要求2所述的自适应支付处理系统,其特征在于,所述系统还包括:

序列解析设备,用于基于电子支付终端启动电子支付的时刻所落在的时间段确定对应的随机序列;

数据验证设备,分别与所述密钥生成设备和所述序列解析设备连接,用于基于所述实时密钥和所述序列解析设备确定的随机序列生成支付密码以用于所述电子支付;

泄露测量设备,分别与系数检测设备、密钥生成设备和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚连接,以获取系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值;

CPLD器件,与所述泄露测量设备连接,用于接收系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值,并对系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值执行加权均值运算以获得参考引脚电磁泄露值,所述CPLD器件还用于将获得的参考引脚电磁泄露值乘以权衡因数以获得系数检测设备的硅片实体电磁泄露值;

SD存储芯片,用于预先存储系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值分别参与加权均值运算的三个权重值;

档位调整设备,分别与所述系数检测设备和所述CPLD器件连接,用于在接收到的硅片实体电磁泄露值超过限量时,根据硅片实体电磁泄露值确定对应的下调目标档位以实现对所述系数检测设备的工作档位的调整;

除尘处理设备,设置在系数检测设备的一侧,分别与所述系数检测设备和PAL控制器件连接,用于在接收到的即时尘埃密度大等于预设尘埃密度阈值时,根据即时尘埃密度确定对应的除尘处理的强度;

密度辨别设备,包括多个密度检测单元,分别与系数检测设备、密钥生成设备和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚连接,以获取系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度;

PAL控制器件,与所述密度辨别设备连接,用于接收系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度,并对系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度执行加权均值运算以获得参考引脚尘埃密度,所述PAL控制器件还用于将获得的参考引脚尘埃密度乘以权衡因数以获得系数检测设备所在场景的即时尘埃密度;

其中,在所述SD存储芯片中,系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前电磁泄露值分别参与加权均值运算的三个权重值大小不同;

其中,在所述档位调整设备中,硅片实体电磁泄露值越大,对应的下调目标档位越低。

4.如权利要求3所述的自适应支付处理系统,其特征在于:

所述速度调节设备还用于基于所述运算速度下调倍数执行对所述系数检测设备的当前数据处理速度的下调执行操作;

其中,所述SD存储芯片还与所述PAL控制器件连接,用于预先存储所述权衡因数。

5.如权利要求4所述的自适应支付处理系统,其特征在于:

所述除尘处理设备还用于基于所述除尘处理的强度执行对所述系数检测设备所在环境的除尘处理;

其中,在所述SD存储芯片中,系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度分别参与加权均值运算的三个权重值大小不同;

其中,所述SD存储芯片还用于预先存储系数检测设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度、密钥生成设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度和序列解析设备的当前未使用的悬置引脚的当前尘埃密度分别参与加权均值运算的三个权重值。

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