[发明专利]数值孪生电磁测量系统

权利要求书

1.一种数值孪生电磁测量系统，其特征在于，包括：

数值微波暗室测量单元，用于利用高性能CAE模拟数值微波暗室，并在所述数值微波暗室中对数值模型进行数值测量；

数值电磁兼容测量单元，用于利用所述高性能CAE模拟数值电磁兼容测量室，并在所述数值电磁兼容测量室中对数值模型进行数值测量；

数值混响室测量单元，用于利用所述高性能CAE模拟数值混响室，并在所述数值混响室中对数值模型进行数值测量。

2.根据权利要求1所述的数值孪生电磁测量系统，其特征在于，所述数值微波暗室测量单元、所述数值电磁兼容测量单元和所述数值混响室测量单元均包括误差仿真模块、数值测量模块和传递函数模块，其中，

所述误差仿真模块，用于对所述数值模型进行加工误差分析和/或测量误差分析；

数值测量模块，用于在对所述数值模型进行加工误差分析和/或测量误差分析之后，对所述数值模型进行数值测量，以得到数值测量结果；

传递函数模块，用于根据所述数值模型的数值测量结果得到传递函数。

3.根据权利要求2所述的数值孪生电磁测量系统，其特征在于，所述误差仿真模块包括：

加工误差分析模块，用于对所述数值模型进行加工误差分析；

测量误差分析模块，用于对所述数值模型进行测量误差分析。

4.根据权利要求3所述的数值孪生电磁测量系统，其特征在于，所述加工误差分析包括系统误差分析和随机误差分析。

5.根据权利要求3所述的数值孪生电磁测量系统，其特征在于，所述测量误差分析包括探头模式误差分析、极化比误差分析、增益误差分析、校准误差分析、归一化常数误差分析、阻抗不匹配误差分析、待测物校准误差分析、采样数据间隔误差分析、测量区域截断误差分析、探头的位置误差分析、探头和待测物间耦合误差分析、接收信号幅度的线性度误差分析、系统相位误差分析、接收机的动态范围误差分析、室内散射误差分析、串扰和泄露误差分析、随机幅度/相位误差分析中的至少一种。

6.根据权利要求2所述的数值孪生电磁测量系统，其特征在于，所述数值测量模块，具体用于在所述数值微波暗室中对所述数值模型进行数值远场测试和/或数值中场测试和/或数值近场测试和/或数值无相位测试，其中，数值远场测试包括室外远场测试、室内远场测试和紧缩场测试。

7.根据权利要求2所述的数值孪生电磁测量系统，其特征在于，所述数值测量模块，具体用于对所述数值模型进行辐射耐受性测试和/或静电测试和/或电性快速瞬时干扰耐受测试和/或电磁传导耐受测试和/或电压瞬断变异耐受测试和/或雷击耐受测试。

8.根据权利要求2所述的数值孪生电磁测量系统，其特征在于，所述传递函数模块，具体用于获取实物暗室中的待测物的测量结果，并根据所述数值测量结果与所述待测物的实物测量结果的差值得到所述传递函数。

9.根据权利要求1所述的数值孪生电磁测量系统，其特征在于，所述混响室包括摆动墙式混响室、漫射体式混响室、波纹墙式混响室、不对称结构混响室、固有混响室和机械搅拌式混响室。