[发明专利]基于光纤光栅长度的滑动轴承磨损量测量方法

权利要求书

1.一种基于光纤光栅长度的滑动轴承磨损量检测方法，其特征在于，它包括如下步骤：

步骤1：基于FBG刻写技术在光纤(4)上刻写光栅(1)，调节光栏狭缝的宽度，控制光纤曝光区域的长度为1～1.2cm，在光纤(4)去除涂覆层的部分刻写出栅区长度为1～1.2cm，反射率大于90％的光栅(1)，根据曝光区域的具体位置，在光纤(4)上标记栅区位置；

步骤2：根据标记的栅区位置首先截去栅区一端1.5～3mm的光栅(1)，然后取剩下部分的栅区与另外一根光纤(4)同轴熔接在一起，最后截去栅区另一端1.5～3mm的光栅(1)，形成光栅磨损传感器，此时剩下部分的栅区为光栅磨损传感器的磨损检测端；

步骤3：在待测的滑动轴承的轴瓦(7)上开设磨损量检测孔(8)，将光栅磨损传感器的磨损检测端插入轴瓦(7)的磨损量检测孔(8)中，并调整光栅磨损传感器的位置，使光栅磨损传感器的磨损检测端的轴向与轴瓦(7)的径向平行，光栅磨损传感器的磨损检测端的端面与轴瓦(7)的轴瓦磨损面(5)处于同一平面，然后固定光栅磨损传感器；

步骤4：在待测的滑动轴承工作前，通过OFDR解调系统解调出光栅磨损传感器中初始状态下光栅栅区的长度；

步骤5：在待测滑动轴承工作过程中，每隔预设时间解调一次光栅磨损传感器中当前的光栅栅区长度，并将步骤4中的初始状态下光栅栅区的长度与解调出的当前光栅栅区长度相减，其差值即为待测滑动轴承预设时间内的磨损量。

2.根据权利要求1所述的基于光纤光栅长度的滑动轴承磨损量检测方法，其特征在于：步骤4和步骤5中，通过OFDR解调系统解调出光栅磨损传感器中光栅栅区的长度的具体方法为：通过OFDR系统及解调算法，获得光栅拍频信号频谱图，在光栅拍频信号频谱图的基础上寻找光栅栅区位置，计算栅区长度。

3.根据权利要求2所述的基于光纤光栅长度的滑动轴承磨损量检测方法，其特征在于：在OFDR系统的光栅拍频信号频谱图的基础上寻找光栅栅区位置位置及计算栅区长度计算方法如下：首先对光栅频谱做归一化处理，设定阈值为光栅频谱幅值最大值的20％，提取光栅频谱幅值大于阈值的部分，即为选定的光栅栅区，即可确定光栅栅区的位置和长度。

4.根据权利要求1所述的基于光纤光栅长度的滑动轴承磨损量检测方法，其特征在于：所述步骤5的预设时间为30秒。

5.根据权利要求3所述的基于光纤光栅长度的滑动轴承磨损量检测方法，其特征在于：光栅反射谱波长为1550nm。

6.根据权利要求1所述的基于光纤光栅长度的滑动轴承磨损量检测方法，其特征在于：所述OFDR解调系统的扫频光源扫频范围为1500～1600nm。