[发明专利]阵列基板、显示模组及其测试方法、显示面板有效

专利信息
申请号: 201910073005.X 申请日: 2019-01-25
公开(公告)号: CN109658855B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 张春旭;戴珂;吴忠厚;江鹏;张云天;邓亚飞 申请(专利权)人: 合肥京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G02F1/1362
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 柴亮;张天舒
地址: 230012 安徽省合肥市新*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 阵列 显示 模组 及其 测试 方法 面板
【权利要求书】:

1.一种阵列基板,包括多个用于连接驱动单元的连接区,以及多个用于连接测试头的测试区;每个连接区中设有多个连接端,每个连接端连接引线;每个测试区中设有多个测试端,任意两测试区中测试端的数量和排布方式均相同;其特征在于,

所述测试区分为独立测试区和共享测试区;每个所述独立测试区对应一个连接区,其中所有测试端均与其对应的连接区中的连接端电连接;每个所述共享测试区对应多个连接区,其中有多个测试端分别与其所对应的多个连接区中的连接端电连接;

多个所述连接区和测试区沿第一方向排成一排;其中,所述共享测试区位于相邻连接区之间的间隔中,且每个所述间隔中最多有一个共享测试区,每个共享测试区与其两侧的两个连接区对应;

所述独立测试区的数量为两个,分别位于所述排的两端。

2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,

每个所述共享测试区对应两个连接区。

3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,

所述测试端分为与连接端电连接的有效测试端,以及与连接端绝缘的冗余测试端;

每个所述独立测试区中的全部测试端均为有效测试端;

每个所述共享测试区中同时具有冗余测试端和多个有效测试端。

4.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,

至少部分所述连接区中,有多个连接端通过短路环相互电连接;

至少部分所述测试端通过短路环同时与多个连接端电连接。

5.根据权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,

与通过所述短路环相互电连接的连接端相连的引线为数据线。

6.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,还包括栅极驱动电路,所述引线包括用于为栅极驱动电路提供驱动信号的栅极驱动线;其中,

与所述独立测试区对应的连接区中的至少部分连接端与栅极驱动线相连;

与所述共享测试区对应的连接区中的所有连接端均与栅极驱动线绝缘。

7.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,

所述连接区的数量为4的整数倍;

在第一方向上,除最中间的两个连接区之间的间隔外,其它任意两个相邻连接区间的间隔中均设有一个共享测试区。

8.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,

至少部分连接区中有至少部分连接端同时与该连接区两侧的测试区中的测试端电连接;

和/或,

至少部分连接区中有至少部分连接端分别与该连接区两侧的测试区中的测试端电连接。

9.一种显示模组,其特征在于,包括:

权利要求1至8中任意一项所述的阵列基板;

与所述阵列基板对盒的对盒基板。

10.一种显示模组测试方法,其特征在于,所述显示模组为权利要求9所述的显示模组,所述显示模组测试方法包括:

将多个结构相同的测试头分别于与各测试区连接;每个测试头上设有至少一个探针区,每个探针区中设有多个探针,每个探针区中探针的数量和排布方式与一个测试区中测试端的数量和排布方式对应;其中,每个探针区与一个测试区对应,每个探针与一个测试端接触;

通过探针向测试端引入测试信号。

11.根据权利要求10所述的显示模组测试方法,其特征在于,

所述显示模组中的阵列基板为权利要求7所述的阵列基板;

每个所述测试头上有两个间隔设置的探针区,两个探针区分别与位于同一个连接区两侧的两个测试区对应。

12.一种显示面板,其特征在于,包括:

权利要求9所述的显示模组;

与所述连接区连接的驱动单元。

13.根据权利要求12所述的显示面板,其特征在于,

所述驱动单元包括覆晶薄膜或驱动芯片。

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