[发明专利]一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统

说明书

本申请公开一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统，方法包括获取全局图像，确定缺陷区域；提取缺陷区域的亮暗信息；拍摄缺陷位置在不同层的对焦图像，确定缺陷所在的具体层位置；根据检测基准对缺陷进行不良品判定；系统包括低精度灰度相机，处理器，高精度彩色相机及显示器；本申请的方法及系统通过高精度彩色相机对缺陷位置局部进行高精度拍摄，可实现缺陷位置局部的子像素级图像处理，同时引入模拟点度量标准来判定亮点亮度，通过对不良程度进行精确量化，保证与实际检测标准对比后检测出的缺陷正确，避免误检。

技术领域

本申请涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统。

背景技术

随着人民生活水平的不断提高，对于显示屏的质量要求也逐渐提升，与此同时，对于显示屏的缺陷检测也面临着更高的要求。显示屏由众多的像素点组成，其中每一个像素点都包含R(红)、G(绿)、B(蓝)三个子像素(也称绘素)，通过调整RGB三种不同颜色的子像素的亮度来表示各种颜色。

常见的显示屏缺陷按照其形态可大致分为点、线、色斑三种缺陷。其中，点类缺陷是显示屏中最为常见的一种缺陷，可粗略分为暗点、亮点及异物。暗点是常暗的点，在全白画面下，若RGB三点中任一子像素不亮，则该缺陷称为暗点；亮点是常亮的点，在全黑画面下，若RGB三点中任一子像素亮起，则该缺陷称为亮点；异物是在玻璃盖板、背光层或者偏光片等夹层中存在的不可擦除的灰尘、毛丝等干扰物，根据可见画面类型可分为亮异物和暗异物，其中亮异物在黑画面可见，暗异物在白画面可见。在实际工业生产中，亮暗点的形态是多种多样的，具有不同的判定基准。对于暗点的检测通常根据其个数、距离及连接形态来判定；对于亮点的检测除了要对其个数，距离，连接形态进行判定外，还需要对亮度进行度量，一般而言，亮度低于一定阈值的亮点视为良品，忽略之；而对于异物的判定主要根据其尺寸和距离来判定，通常如果尺寸超出某一标准则认为是不良品。

目前，大多数检测设备常采用灰度相机对显示屏进行全局拍摄，根据邻域比较的方法检测出亮暗缺陷并计算其对比度和尺寸信息，根据经验设定对比度及尺寸阈值，如果超出阈值则认为是不良，否则认为是良品。该类检测系统基于像素进行图像处理，能较好地检测出大多数毫米级缺陷，但对于检测精度要求更高的微米级缺陷显得无能为力，无法与市场要求的检测基准对齐。具体表现在以下三个方面：一、当对暗点缺陷进行检测时，如果采用传统检测设备进行全局灰度采图，无法从图像上看到暗点的精细形态特征，即无法判断出暗点为距离暗点或二连暗点，难以达到精确测量的目的；二、当对亮点进行检测时，由于灰度相机不具备颜色信息，而人眼对于红绿色的敏感度不同，当亮度差异比较接近时，很难分辨其不良程度，导致测量精度下降；三、对于异物检测时，灰度相机无法测量出异物的具体位置，导致可以被返修的显示屏被误判为报废品，造成资源浪费。

发明内容

本申请提供一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统，以解决现有技术中测量精度低、准确性差的问题，并且本申请基于高精度彩色相机对缺陷位置局部进行高精度拍摄，可实现缺陷位置局部的子像素级图像处理，同时引入模拟点度量标准来判定亮点亮度，通过对不良程度进行精确量化，保证与实际检测标准对比后检测出的缺陷正确，避免误检。

本申请提供了一种显示屏缺陷高精度检测方法，包括获取全局图像，确定缺陷区域；

提取缺陷区域的亮暗信息；

拍摄缺陷位置在不同层的对焦图像，确定缺陷所在的具体层位置；

根据检测基准对缺陷进行不良品判定。

可选的，当缺陷是暗点缺陷时，所述根据检测基准对缺陷进行不良品判定包括：

分析缺陷的连接形态；

若缺陷的连接形态为距离暗点，则判定为良品；若缺陷的连接形态为二连暗点，则判定为不良品。

可选的，当缺陷是亮点缺陷时，所述根据检测基准对缺陷进行不良品判定包括：