[发明专利]芯片筛选方法及装置

权利要求书

1.一种芯片筛选方法，其特征在于，所述方法包括：

根据不同的测试项目确定测试芯片的关键路径，所述测试芯片包括多个核(core)，在所述测试项目为数据通路测试项目时，所述关键路径的节点包括：内存管理单元MMU、数据缓存单元、数据旁路快表缓冲DTLB、外接存储空间；

对所述测试芯片的多个核的关键路径进行压力测试，包括：利用归并排序算法及交叉耦合数据对所述测试芯片的数据通路的关键路径进行并行测试；

根据不同测试结果判断所述测试芯片的状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用归并排序算法及交叉耦合数据对所述测试芯片的数据通路的关键路径进行并行测试，包括：

利用所述测试芯片的核发出第一虚拟地址请求读取第一数据；

利用所述MMU或DTLB将所述第一虚拟地址映射为第一物理地址；

通过所述第一物理地址在所述数据缓存单元中读取所述第一数据；

在所述数据缓存单元不存在所述第一数据时，通过所述第一物理地址在所述外接存储空间中读取所述第一数据，并将读取的所述第一数据存入所述数据缓存单元中。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一数据以缓存线(cache line)的形式存储在所述数据缓存单元中，所述利用归并排序算法及交叉耦合数据对所述测试芯片的数据通路的关键路径进行并行测试，还包括：

利用所述测试芯片的各个核将各自的第一数据对应的缓存线中的不同对象单元(unit)耦合到同一缓冲线上进行一轮归并排序运算；

在一轮归并排序运算结束后，利用所述测试芯片的各个核以交叉的方式选择所述第一数据对应的缓存线的对象单元进行下一轮归并排序运算，并将该轮排序的数据空间作为第二轮排序结果进行缓存；

循环往复进行多轮排序比较运算，直到所述测试芯片中每个核都对所述第一数据对应的缓存线的每一个对象单元进行了归并排序运算，获得排序结果；

将所述排序结果作为所述测试结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据不同测试结果判断所述测试芯片的状态，包括：

将所述测试结果与原始数据排序进行对比，在所述测试结果与原始数据排序不一致时，确定所述测试芯片为不良芯片；或

在所述测试结果与所述原始数据排序一致时，确定所述测试芯片为正常芯片。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，在测试过程中如果出现宕机，确定所述测试芯片为不良芯片。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述测试项目为指令通路测试项目时，所述指令通路的关键路径的各个节点包括：内存管理单元MMU、指令缓存单元ICache、数据缓存单元DCache、指令旁路快表缓冲ITLB、窥探控制单元SCU、外接存储空间。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述对所述测试芯片的多个核的关键路径进行压力测试，包括：

利用链表排序算法对所述测试芯片的多个核的关键路径进行并行测试，所述链表排序算法用于对多个指令页面进行排序。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，利用链表排序算法对所述测试芯片的多个核的关键路径进行并行测试，包括：

利用所述测试芯片的各个核对指令页面的索引进行一轮页面排序；

在一轮排序结束后，利用所述测试芯片的各个核以同样的方式对待排序指令页面进行下一轮排序；

重复进行以上的排序逻辑，直到所述测试芯片中的每个核都对各个指令页面进行了排序，以获得所述测试结果。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述利用所述测试芯片的各个核对指令页面的索引进行一轮页面排序，包括：

当发现两个指令页面的索引序号顺序不一致时，交换指令页面顺序；

锁定其中一个指令页面，将锁定的指令页面指令进行加密处理，并将锁定的指令页面置为“脏”标志；

解锁该锁定的指令页面。