[发明专利]建立标准单元库的方法与系统、芯片设计方法与系统

权利要求书

1.一种建立标准单元库的方法，其特征在于，包括以下步骤：

进行行为级别描述，以确定待设计的芯片的功能、性能及面积；

依据所述行为级别描述进行硬件级别描述；

制定配合所述芯片的工艺需求的固定布局方式，并根据所述固定布局方式设计一具有原始单元的原始单元库；以及，

根据所述硬件级别描述、原始单元库、所述芯片对应的工艺设计表格以及所述芯片应用在设计上的限制条件进行逻辑合成，以形成标准单元库。

2.如权利要求1所述的建立标准单元库的方法，其特征在于，进行所述逻辑合成以形成所述标准单元库的步骤包括：

根据所述硬件级别描述，从所述原始单元库中选取出逻辑功能符合需求的原始单元；

检查所述原始单元对应所述工艺设计表格中的数据是否符合所述限制条件，在不符合时，通过在所述原始单元串联相应数量的晶体管以及调整所述原始单元的高度和/或最大驱动强度，来产生新的标准单元，所述原始单元库和所述新的标准单元组成所述标准单元库。

3.如权利要求2所述的建立标准单元库的方法，其特征在于，所述工艺设计表格包括参数表格、速度表格和漏电流表格，所述参数表格用于记录所述原始单元库中各个原始单元的固定布局参数，所述速度表格用于记录所述原始单元库中各个原始单元的延迟时间，所述漏电流表格用于记录所述原始单元库中各个原始单元的漏电流；

检查所述原始单元对应所述工艺设计表格中的数据是否符合所述限制条件的步骤包括：

通过查所述漏电流表格来检查所述原始单元的漏电流是否符合所述限制条件，若不符合，则通过漏电流参数的算法确定在所述原始单元上串联多少数量的晶体管后的漏电流才能符合所述限制条件，并将串联有所述数量的原始单元创建为一个新的标准单元；以及，

通过查所述速度表格来检查所述原始单元的延迟时间是否符合同步时钟速度的要求，若不符合，则通过速度延迟的算法对所述原始单元的高度进行变化，以找到能够符合所述要求且高度最小和驱动强度最大的状态，并将所述状态的原始单元创建为一个新的标准单元。

4.如权利要求1至3中任一项所述的建立标准单元库的方法，其特征在于，所述固定布局方式中，所有P型晶体管的几何大小都是相同的；所有N型晶体管的几何大小都是相同的，且所有P型晶体管和所有N型晶体管的长度都是相同的。

5.一种建立标准单元库的系统，其特征在于，包括：

行为级描述模块，其被配置为进行行为级别描述，以确定待设计的芯片的功能、性能及面积；

硬件级别描述模块，其被配置为依据所述行为级别描述进行硬件级别描述；

原始单元库设计模块，其被配置为制定配合所述芯片的工艺需求的固定布局方式，并根据所述固定布局方式设计一具有原始单元的原始单元库；

工艺设计表格模块，其被配置为根据所述芯片的工艺设计需求制定所述芯片对应的工艺设计表格；

应用限制条件模块，其被配置为根据所述芯片的应用需求制定所述芯片应用在设计上的限制条件；以及，

合成引擎，其被配置为将所述硬件级别描述、原始单元库、所述工艺设计表格以及所述限制条件进行逻辑合成，以形成新的标准单元；以及，

标准单元库模块，其被配置为存放所述原始单元库中的所有原始单元以及所述合成引擎产生的所有的新的标准单元，以形成标准单元库。

6.如权利要求5所述的建立标准单元库的系统，其特征在于，所述合成引擎进一步被配置为：

根据所述硬件级别描述，从所述原始单元库中选取出逻辑功能符合需求的原始单元；

检查所述原始单元对应所述工艺设计表格中的数据是否符合所述限制条件，在不符合时，通过在所述原始单元上串联相应数量的晶体管以及调整所述原始单元的高度和/或最大驱动强度，来产生新的标准单元。