[发明专利]液晶面板显示异常分析方法

说明书

本发明提供一种液晶面板显示异常分析方法。该液晶面板显示异常分析方法通过撕除液晶面板一侧的偏光片，通过光学显微镜从液晶面板撕除偏光片的一侧观察显示异常位置，对该显示异常位置做第一标记，根据所述第一标记定位显示异常子像素，对该显示异常子像素做第二标记，通过电子显微镜根据第二标记观察显示异常子像素，获得显示异常子像素的对比参数，将显示异常子像素的对比参数与预设的标准参数进行对比分析，可以准确分析得到液晶面板显示异常原因，有利于提高产品良率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶面板显示异常分析方法。

背景技术

薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)是目前液晶显示装置(Liquid CrystalDisplay，LCD)和有源矩阵驱动式有机电致发光显示装置(Active Matrix Organic Light-Emitting Diode，AMOLED)中的主要驱动元件，直接关系平板显示装置的显示性能。

现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片(ColorFilter，CF)基板之间灌入液晶分子，并在两片基板上分别施加像素电压和公共电压，通过像素电压和公共电压之间形成的电场控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线透射出来产生画面。液晶显示面板成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、刻蚀及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

聚合物稳定垂直排列(polymer stabilized vertical alignment，PSVA)是TFT-LCD的一种技术，需要通过光配向对液晶分子做倾角化处理，光配向是利用紫外光偏光照射液晶分子中的反应型单体(Reactive Monomer，RM)以及液晶分子在电场的作用下按一定的角度排布的情况下发生聚合反应，而使液晶分子形成预倾角，由于光配向过程不需要用滚轮摩擦配向膜，因此能提升产品的优良率和生产设备的稳定性，虽然规避了滚轮摩擦制程的某些缺陷(例如摩擦静电或异物等)，但是存在液晶分子中异物影响预倾角的缺陷。对于液晶显示面板，通常盒内异物造成的点类问题，可利用光学显微镜观察，且能够找到存在的固态异物；但是对于拆片前可见，拆片后不可见的“油气”类异物，光学显微镜观察能力有限。

发明内容

本发明的目的在于提供一种液晶面板显示异常分析方法，可以准确分析得到液晶面板显示异常原因，有利于提高产品良率。

为实现上述目的，本发明提供了一种液晶面板显示异常分析方法，包括如下步骤：

步骤S1、撕除液晶面板一侧的偏光片，通过光学显微镜从液晶面板撕除偏光片的一侧观察显示异常位置，对该显示异常位置做第一标记；

步骤S2、根据所述第一标记定位显示异常子像素，对该显示异常子像素做第二标记；

步骤S3、通过电子显微镜根据第二标记观察显示异常子像素，获得显示异常子像素的对比参数；

步骤S4、将显示异常子像素的对比参数与预设的标准参数进行对比分析以确定显示异常的产生原因。

所述液晶面板包括相对设置的TFT阵列基板和CF基板、设于所述TFT阵列基板和CF基板之间的液晶层以及分别设于TFT阵列基板和CF基板远离液晶层一侧的偏光片；

所述液晶层包括间隔分布的多个液晶分子以及多个反应型单体。