[发明专利]相位测距方法、装置、分体式电子设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201910090649.X 申请日: 2019-01-30
公开(公告)号: CN109782262A 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 杨鑫 申请(专利权)人: OPPO广东移动通信有限公司
主分类号: G01S11/00 分类号: G01S11/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张润
地址: 523860 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电子设备 电磁波 分体式电子 可读存储介质 测距 主体端 波长 受外界环境 初始相位 关系满足 预设条件 参考 屏幕 发射 申请
【说明书】:

本申请提出一种相位测距方法、装置、分体式电子设备及可读存储介质,其中,方法包括:在当前获取的第一电磁波的相位,与第一电磁波对应的初始相位间的关系满足预设条件时,第一电子设备确定第一电磁波为参考电磁波;第一电子设备根据各参考电磁波的波长,确定第一电子设备与第二电子设备间的距离,其中,第二电子设备为发射第一电磁波的设备,第一电子设备为分体式电子设备中的屏幕端及主体端中的一个,第二电子设备为屏幕端及主体端中的另一个。该方法能够根据电磁波的相位和波长,确定第一电子设备与第二电子设备间的距离,可以不受外界环境因素的影响,从而提升测量结果的准确性。

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域,尤其涉及一种相位测距方法、装置、分体式电子设备及可读存储介质。

背景技术

相关技术中,通过专门的测距设备,例如激光测距仪进行测距,在测距时,需要使用反射面来配合测距设备实现测距。具体地,根据测距设备与反射面之间的光的传播时长,确定测距设备与反射面之间距离。

这种方式下,光的传播时长易受外界环境因素的影响,在距离相同的情况下,若外界环境因素不同,则测量结果可能不同,从而导致测量结果的准确性较低。

发明内容

本申请提出一种相位测距方法、装置、分体式电子设备及可读存储介质,以实现根据电磁波的相位和波长,确定第一电子设备与第二电子设备间的距离,可以不受外界环境因素的影响,从而提升测量结果的准确性,用于解决相关测距技术中测距结果的准确性较低的技术问题。

本申请一方面实施例提出了一种相位测距方法,包括:

在当前获取的第一电磁波的相位,与所述第一电磁波对应的初始相位间的关系满足预设条件时,第一电子设备确定所述第一电磁波为参考电磁波;

所述第一电子设备根据各参考电磁波的波长,确定所述第一电子设备与第二电子设备间的距离;

其中,所述第二电子设备为发射所述第一电磁波的设备,所述第一电子设备为分体式电子设备中的屏幕端及主体端中的一个,所述第二电子设备为所述屏幕端及主体端中的另一个。

本申请实施例的相位测距方法,通过第二电子设备向外发射第一电磁波,第一电子设备在接收到第一电磁波后,确定当前获取的第一电磁波的相位与其对应的初始相位间的关系是否满足预设条件,若满足,则将该第一电磁波作为参考电磁波,从而第一电子设备可以根据各参考电磁波的波长,确定第一电子设备与第二电子设备间的距离。本申请中,由于电磁波的波长只与频率有关,不会受到外界环境的变化而变化,因此,根据电磁波的相位和波长,确定第一电子设备与第二电子设备间的距离,可以不受外界环境因素的影响,从而提升测量结果的准确性。

本申请又一方面实施例提出了一种相位测距装置,包括:

处理模块,用于在当前获取的第一电磁波的相位,与所述第一电磁波对应的初始相位间的关系满足预设条件时,第一电子设备确定所述第一电磁波为参考电磁波;

第一确定模块,用于根据各参考电磁波的波长,确定所述第一电子设备与第二电子设备间的距离;

其中,所述第二电子设备为发射所述第一电磁波的设备,所述第一电子设备为分体式电子设备中的屏幕端及主体端中的一个,所述第二电子设备为所述屏幕端及主体端中的另一个。

本申请实施例的相位测距装置,通过第二电子设备向外发射第一电磁波,第一电子设备在接收到第一电磁波后,确定当前获取的第一电磁波的相位与其对应的初始相位间的关系是否满足预设条件,若满足,则将该第一电磁波作为参考电磁波,从而第一电子设备可以根据各参考电磁波的波长,确定第一电子设备与第二电子设备间的距离。本申请中,由于电磁波的波长只与频率有关,不会受到外界环境的变化而变化,因此,根据电磁波的相位和波长,确定第一电子设备与第二电子设备间的距离,可以不受外界环境因素的影响,从而提升测量结果的准确性。

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