[发明专利]一种大口径望远镜副镜姿态在位调整方法

权利要求书

1.一种大口径望远镜副镜姿态在位调整方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤100，选用与被测望远镜的主镜按一定比例缩小口径和焦比的平行光管，以与主镜的入射光轴平行的方式安装在被测望远镜上，且平行光管的出瞳与被测望远镜的入瞳重合；

步骤200，被测望远镜入瞳经过检测光路的准直镜后，成像于主镜的中间瞳位置，平行光管的孔径成像占据中间瞳面的一部分形成检测瞳面；

步骤300，根据检测光路需求选择合适的准直镜参数，进而确定检测瞳面尺寸与适合的波前传感器的参数，将波前传感器放置于检测瞳面，光波前到达波前传感器后被微透镜阵列分成若干个子单元，使探测器获得点阵图像；

步骤400，当副镜姿态发生变化时，光波前通过波前传感器的微透镜阵列，在探测器靶面上所成的子像将相对于校准的参考子像发生偏移，计算该偏移量以获取波前每个子单元的斜率，然后基于斜率重构波前，即可获得系统像差情况；

步骤500，根据像差值推算副镜姿态的六维变化量，然后反馈给并联六轴位移平台，以该六维变化量对副镜进行姿态调整，在此基础上重复步骤400获取新的六维变化量再去调整副镜姿态，重复多次循环迭代，逐渐收敛，完成副镜校正目的；

所述步骤400中，在探测姿态的变化之前，使用平行光校准所述波前传感器，以确定副镜姿态没有发生变化时所述波前传感器生成参考子像的位置。

2.根据权利要求1所述的大口径望远镜副镜姿态在位调整方法，其特征在于，

所述步骤400中，获得系统像差情况的具体方法如下：

使用Zernike多项式最小二乘拟合波前，得到Zernike系数，Zernike系数即可直接反映其对应的像差值。

3.根据权利要求1所述的大口径望远镜副镜姿态在位调整方法，其特征在于，

所述平行光管架设在可水平伸缩或旋转的机械装置上，在所述被测望远镜做姿态调整时，机械装置通过伸缩或旋转的方式控制所述平行光管进入所述被测望远镜的入瞳面，姿态调整结束后再利用所述机械装置用同样的方式将所述平行光管移出光路。