[发明专利]一种用于拼接图像的篡改检测方法有效
申请号: | 201910094058.X | 申请日: | 2015-06-25 |
公开(公告)号: | CN109903302B | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 王晓峰;韩亚丽;席江欢;徐冰超 | 申请(专利权)人: | 北京影谱科技股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/13 | 分类号: | G06T7/13;G06T7/181;G06T1/00;G06T3/40 |
代理公司: | 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 | 代理人: | 冀婷 |
地址: | 100000 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 拼接 图像 篡改 检测 方法 | ||
1.一种用于拼接图像的篡改检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
第1步,将待检测图像分成多个图像块的预处理;
第2步,估算原始图像模式;
第3步,利用边缘检测算子进行篡改定位检测;
其中,在所述第1步中将待检测图像分成多个图像块的预处理时,所述待检 测图像按像素点分为M×N大小的矩阵I,采用CFA差值模型将待检测图像的绿色分量记为ICFA,将ICFA划分为不重叠的64×64的图像块,即得到M×N/642个图像块,用表示第k块:
所述第2步中估算原始图像模式时将ICFA的像素分为M1和M2两类,其中M1表示通过插值得到的像素值,M2表示通过传感器直接获得的像素值,ICFA(m,n)表示插值点(m,n)处的像素值;
所述第2步包括:
第2.1步,对每一个图像块中插值点(m,n)处的像素值建立线性插值模型:
其中,参数参数r(m,n)是服从均值为0、方差为σ2正态分布的残余误差;
第2.2步,对参数进行初始化,令N0=1,即与其相邻的8个像素值相关,方差σ=2,属于M2的条件概率为P0=1/256,对每一个图像块利用EM算法估算出其插值系数,记为计算所有的平均值,记为
第2.3步,利用构造最终的插值系数矩阵,记为H:
第2.4步,记绿色分量ICFA插值点(m,n)的邻域矩阵为
第2.5步,利用最终的插值系数矩阵H和差值点(m,n)邻域矩阵得到原始图像模式I'CFA内的像素值I'CFA(m,n):
在所述第2.2步中,利用EM算法估算插值系数的步骤如下:
以两步迭代为过程,最终收敛为目的,分为E步和M步,E步估计插值点(m,n)属于M1或M2的概率,M步估计和σ2,进而估计出相邻像素间相关性的具体模式。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第3步利用边缘检测算子进行篡改定位检测具体步骤如下:
第3.1步,定义新矩阵IC,其元素为ICFA与I'CFA的对应元素差的平方:
第3.2步,对IC进行二值化处理得到I'C,然后利用Canny边缘检测算子对I'C进行边缘检测,得到初步篡改定位结果IL:
IL=E(I'C,'canny') (8)。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述第3步还包括:
第3.3步,将初步篡改定位结果IL使用形态学闭运算进行处理,得到最终的篡改定位结果ILend:
ILend=imclose(IL,SE) (9),
其中, SE是结构元素。
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