[发明专利]ADC中采样器和放大器非线性的背景校准在审
申请号: | 201910098128.9 | 申请日: | 2019-01-31 |
公开(公告)号: | CN110138385A | 公开(公告)日: | 2019-08-16 |
发明(设计)人: | A·M·A·阿里;P·古拉蒂 | 申请(专利权)人: | 美国亚德诺半导体公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10;H03M1/12 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘倜 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放大器 背景校准 采样器 非线性问题 非线性行为 抖动信号 模拟电路 输入分布 校准技术 整体功耗 注入模拟 数字域 线性度 功耗 可用 电路 隔离 暴露 检测 损害 应用 | ||
1.具有有效误差估计的校准系统,包括:
抖动电路,用于在电路的输入注入抖动并且在电路的输出除去所述抖动;
计数电路,用于在由所述输出的一个或多个检查点限定的范围内累计输出的计数;
误差电路,用于比较与所述抖动的不同值相关联的计数并确定误差估计;和
校准电路,用于将所述误差估计推向零。
2.权利要求1所述的校准系统,其中所述抖动是具有在多个值之间随机分布的多个值的信号。
3.权利要求1所述的校准系统,其中所述电路包括以下中的一种或多种:缓冲器、跟踪和保持电路、以及放大器。
4.权利要求1所述的校准系统,其中所述一个或多个检查点包括以下中的一种或多种:正值、正抖动值、负值、负抖动值和零。
5.权利要求1所述的校准系统,其中所述由一个或多个检查点限定的范围包括以下中的一种或多种:第一检查点以下的输出范围、以及第二检查点以上的输出范围。
6.权利要求1所述的校准系统,其中所述一个或多个检查点随机变化以适应不同的输入条件。
7.权利要求1所述的校准系统,其中所述检查点基于所述电路输入的一个或多个条件而变化。
8.权利要求1所述的校准系统,其中所述误差电路包括:
减法电路,用于减去所述抖动的不同值之间的计数,以在给定的检查点处形成部分误差估计。
9.权利要求1所述的校准系统,其中所述误差电路通过添加在两个不同的检查点确定的部分误差来确定所述误差估计。
10.权利要求1所述的校准系统,其中所述误差电路通过减去在两个不同的检查点确定的部分误差来确定所述误差估计。
11.权利要求1所述的校准系统,其中所述校准电路基于误差估计和最小均方更新方程更新所述电路元件的估计。
12.权利要求11所述的校准系统,其中所述校准电路基于所述电路元件的估计来校正所述电路的输出。
13.一种电路的有效误差估计和校准的方法,包括:
在所述电路的输入处添加抖动;
在所述电路的输出处除去所述抖动;
在所述输出的一个或多个检查点限定的范围内累计输出的计数;
比较与所述抖动的不同值相关的计数;
基于所述计数的比较确定误差估计;和
将所述误差估计推向零。
14.权利要求13所述的方法,其中将所述误差推向零包括:
基于所述误差估计更新所述电路元件的估计;和
根据所述估计校正所述电路的数字输出。
15.权利要求14所述的方法,其中将所述误差推向零包括:
基于增强偶数对称误差同时衰减奇数对称误差的参数来更新所述电路元件的估计。
16.权利要求14所述的方法,其中将所述误差推向零包括:
基于增强奇数对称误差同时衰减偶数对称误差的参数来更新所述电路元件的估计。
17.权利要求13所述的方法,其中:
在抖动的不同值之间的计数的比较在给定的检查点处形成部分误差估计;和
确定误差估计包括组合在一个或多个不同的检查点确定的部分误差估计。
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