[发明专利]飞针测试机的测试方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种飞针测试机的测试方法及装置，该方法包括：基于飞针测试机对样本测试板进行飞针测试，根据测试结果获取所述样本测试板中每组测试点的样本电阻值；根据所述样本电阻值进行偏差设定，以确定每组测试点的阻值判定范围；将所述样本电阻值和阻值判定范围添加至电路板数据文件中，根据所述电路板数据文件对待测电路板进行飞针测试；选取出所述待测电路板中存在的缺陷，生成测试结果报告。通过上述方法，可以精确测量电路板测试点的具体阻值，提升了对电路板的测试精度，并且能够精确测试出低电阻线路的缺陷。

技术领域

本发明涉及印制电路板测试技术领域，尤其涉及一种飞针测试机的测试方法及装置。

背景技术

飞针测试机是针对元件布置高密度、层数多、布线密度大、测点距离小的PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)进行测试的一种仪器。多轴飞针测试机由四个完全独立的移动测试针组成，在软件的控制下在被测PCB板两面(正面2根测试针、反面2根测试针)进行三维运动并接触到待测点，通过给测试针施加一定的电压、电流，得到不同的测试信号，从而判断待测PCB的通断情况。

随着电子技术的迅猛发展，PCB的制作层数越来越高、线路密度越来越大、焊盘尺寸越做越小，对PCB的要求越来越高。通常情况下，对PCB进行开短路测试的参数值中的开路阻抗设为20Ω，当线路阻值大于20Ω时判断为开路、小于20Ω时判断为合格，对于阻值小于20Ω的线路则无法精确测试出其实际电阻值，因此20Ω以下的线路成为测试盲区。在实际生产中发现PCB的某些缺陷，如孔内无铜、空洞、铜薄、线幼、线路缺口等问题均会影响到线路阻值，当阻值小于20Ω时，用通常的开短路测试方法来测试以上缺陷板时，测试结果显示通过，但实际经过高温焊接后阻值发生变化，导致开路问题发生，因此常规的测试方法无法检测高精度板的开、短路。

发明内容

本发明实施例提供一种飞针测试机的测试方法及装置，可以提升对电路板的测试精度，能够精确测试出低电阻线路的缺陷。

一种飞针测试机的测试方法，包括：

基于飞针测试机对样本测试板进行飞针测试，根据测试结果获取所述样本测试板中每组测试点的样本电阻值；

根据所述样本电阻值进行偏差设定，以确定每组测试点的阻值判定范围；

将所述样本电阻值和阻值判定范围添加至电路板数据文件中，根据所述电路板数据文件对待测电路板进行飞针测试；

选取出所述待测电路板中存在的缺陷，生成测试结果报告。

可选的，在其中一个实施例中，在所述基于飞针测试机对样本测试板进行飞针测试，根据测试结果获取所述样本测试板中每组测试点的样本电阻值之前，还包括：

读取电路板数据文件，提取所述电路板数据文件中的数据信息，并根据所述数据信息建立测试数据文件；所述数据信息包括通孔信息、焊盘信息、相邻网络信息、防焊层信息、线路信息、工具孔信息、参考孔信息和排版指令信息中的至少一种。

可选的，在其中一个实施例中，所述基于飞针测试机对样本测试板进行飞针测试，根据测试结果获取所述样本测试板中每组测试点的样本电阻值，包括：

根据所述测试数据文件对样本测试板进行测试，记录测试结果并保存至测试记录文件中；所述测试记录文件包括网络号、测试点序号、测试针号和电阻值中的至少一种；

根据所述所述测试记录文件中记录的数据计算每组测试点的样本电阻值。

可选的，在其中一个实施例中，所述样本测试板的数量为至少三个，每个样本测试板对应生成一个测试记录文件；

所述根据所述所述测试记录文件中记录的数据计算每组测试点的样本电阻值，包括：