[发明专利]列噪声检测方法、装置、介质及系统

说明书

本申请涉及一种列噪声检测方法，包括，接收来自CMOS图像传感器的图像序列，该图像序列中每一帧图像包括N列像素，其中N为正整数；对于图像，从N列像素中取M列，分别检测该帧图像中的M列中的每一列的水平频率响应，以分别确定M列中的每一列是否存在列噪声，并且，在不同图像中检测的像素列互不相同，其中M为正整数,且M＜N；以及将图像中的测得M列像素中的每一列是否存在列噪声的信息缓存到存储器中。与现有技术相比，本申请通过减少在每一帧时间中检测的像素列的数量，节省了用于缓存列噪声信息的片上存储空间。此外，本申请还涉及一种列噪声检测装置、介质及系统。

技术领域

本申请涉及一种列噪声检测方法、装置、介质及系统。

背景技术

CMOS图像传感器近年来已经广泛应用于移动通信、多媒体娱乐、医疗、安防、航天等领域。目前CMOS图像传感器系统主流的处理结构是采用列共用处理电路，即每列像素共用一套信号处理电路。在这种结构中，由于相邻列ADC(模拟数字转换器)之间的差异，CMOS传感器中会出现噪声，称为列固定模式噪声(Column Fixed Pattern Noise，CFPN，以下简称“列噪声”)，在图像上表现为明暗不一的“竖线”，影响图像品质。相对于随机噪声，列噪声对于图像质量的影响更大，因此有关列噪声的问题一直是业界研究的重点。

发明内容

本申请的目的在于提供一种新的列噪声检测方案，以节省检测列噪声所需的片上存储空间。

本申请的一些方面提供了一种列噪声检测方法，包括，

接收来自CMOS图像传感器的图像序列，该图像序列中每一帧图像包括N列像素，其中N为正整数；

对于图像，从N列像素中取M列，分别检测该帧图像中的M列中的每一列的水平频率响应，以分别确定M列中的每一列是否存在列噪声，并且，在不同图像中检测的像素列互不相同，其中M为正整数,且M＜N；以及

将图像中的测得M列像素中的每一列是否存在列噪声的信息缓存到存储器中。

与现有技术相比，本申请通过减少在每一帧时间中检测的像素列的数量，节省了用于缓存列噪声信息的片上存储空间。

本申请的一些方面提供了一种噪声检测装置，包括，

图像接收单元，被配置为接收来自CMOS图像传感器的图像序列，该图像序列中每一帧图像包括N列像素，其中N为正整数；

列噪声检测单元，被配置为对于图像，从N列像素中取M列，分别检测该帧图像中的M列中的每一列的水平频率响应，以分别确定M列中的每一列是否存在列噪声，并且，在不同图像中检测的像素列互不相同，其中M为正整数,且M＜N；和

缓存单元，被配置为将图像中的测得M列像素中的每一列是否存在列噪声的信息缓存到存储器中。

本申请的一些方面提供了一种机器可读介质，该机器可读介质中存储了指令，该指令被机器运行时，机器执行前述第一方面或第一方面的任一实现方式提供的方法。

本申请的一些方面提供了一种系统，该系统包括处理器和存储器，存储器中包含要被处理器执行的指令，处理器用于读取存储器中的指令，以执行前述方法。

本申请用处理时间换取片上存储空间，将列噪声的检测过程分到多帧中进行，有效减少了片上缓存空间，有利于图像处理器的小型化。

附图说明

图1是根据本申请的实施例的列噪声检测方法的流程图。

图2A是根据传统方法检测列噪声的示意图。

图2B是根据本申请的实施例在第1-N帧中分别检测第1-N列的列噪声的过程的示意图。

图3是根据本申请的实施例的列噪声检测装置框图。