[发明专利]输出过压检测系统和检测方法

权利要求书

1.一种输出过压检测系统，包括：

控制芯片，

电阻，位于所述控制芯片外部并与所述控制芯片耦合；

其中，所述控制芯片包括电流源、控制电容、比较器、过压检测电路，

其中，所述电流源的电流大小由所述控制芯片外部耦合的所述电阻设定，

其中，所述控制电容在所述控制芯片驱动开通延迟一段时间后进行放电清零，并在所述控制芯片驱动关断后输出电感的退磁时间内由所述控制芯片的电流源充电；

其中，所述比较器对所述控制电容两端的电压与采样电阻上的当前开关周期的峰值电压进行对比；并且

其中，所述过压检测电路响应于指示所述控制芯片驱动关断后所述输出电感完全退磁的退磁结束信号，基于所述比较器的比较结果来确定是否检测到过压状态。

2.根据权利要求1所述的输出过压检测系统，其中，当所述比较器的比较结果指示所述控制电容两端的电压低于所述采样电阻上的当前开关周期的峰值电压时，所述过压检测电路检测到过压状态。

3.根据权利要求1所述的输出过压检测系统，其中，当所述比较器的比较结果指示所述控制电容两端的电压高于所述采样电阻上的当前开关周期的峰值电压时，所述过压检测电路未检测到过压状态。

4.根据权利要求1所述的输出过压检测系统，所述控制芯片还包括第一开关和第二开关，所述第一开关跨接在所述控制电容两端，并且所述第二开关串联在所述控制电容与所述电流源之间，并且

其中，在所述控制芯片驱动开通时，所述第二开关被关断，延迟所述一段时间后，所述第一开关被开通，并且在所述控制芯片驱动关断后所述输出电感退磁时，所述第一开关被关断，而所述第二开关被开通。

5.一种输出过压检测方法，包括

采集控制芯片中控制电容两端的电压，其中，所述控制电容在所述控制芯片驱动开通延迟一段时间后进行放电清零，并在所述控制芯片驱动关断后输出电感的退磁时间内由所述控制芯片的电流源充电，其中，所述控制芯片的电流源的电流大小由所述控制芯片外部耦合的电阻设定；

采集采样电阻上的当前开关周期的峰值电压；

将所述控制电容两端的电压与所述峰值电压进行对比；以及

响应于指示所述控制芯片驱动关断后所述输出电感完全退磁的退磁结束信号，基于所述比较的比较结果来确定是否检测到过压状态。

6.根据权利要求5所述的输出过压检测方法，其中，当所述比较器的比较结果指示所述控制电容两端的电压低于所述采样电阻上的当前开关周期的峰值电压时，检测到过压状态。

7.根据权利要求5所述的输出过压检测方法，其中，当所述比较器的比较结果指示所述控制电容两端的电压高于所述采样电阻上的当前开关周期的峰值电压时，未检测到过压状态。

8.根据权利要求5所述的输出过压检测方法，其中，所述控制芯片还包括第一开关和第二开关，所述第一开关跨接在所述控制电容两端，并且所述第二开关串联在所述控制电容与所述电流源之间，并且

其中，在所述控制芯片驱动开通时，所述第二开关被关断，延迟所述一段时间后，所述第一开关被开通，并且在所述控制芯片驱动关断后所述输出电感的退磁时，所述第一开关被关断，而所述第二开关被开通。