[发明专利]存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置

说明书

本发明公开了存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置，属于存储设备技术领域。在训练存储模块时，通过识别存储模块是否通过训练，可初步判断存储模块是否存在异常，对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块，以使存储模块进行检测，避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测，通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题，提供了检测的效率，缩短了检测时间。对于主板的存储单元中包括多个存储模块时，可逐个对每个存储模块依次进行检测，防止了因某一个存储模块存在故障至少主板死机，无法准确定位故障存储模块及该故障存储模块的故障数据线的问题。

技术领域

本发明涉及存储设备技术领域，尤其涉及存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置。

背景技术

目前内存颗粒作为电子系统当中最核心的部件之一，一直以来都是电子系统研究和应用最广泛的对象；当前的智能电子产品，如移动终端(手机、笔记本电脑)、机顶盒、电视机等，这些智能设备主板一般都会大量用到存储器(如：双倍速率存储器，简称DDR，英文Double Data Rate)。主板在生成中会遇到DDR数据线连接不良的问题。对于这种不良板，往往会导致整个系统不能工作(即整个主板报废)，当累积的废板多起来，造成的损失会越来越大。目前对于主板的DDR检测的通常先对DDR进行训练，若训练失败，则主板会进入死机状态，无法检测DDR线路情况，因此，无法准确的定位是哪一个颗DDR出了问题，只能尝试性的拆焊，检测的效率低，且用时长。

发明内容

针对现有存储器测试存在的问题，现提供一种旨在可对故障精准定位，提高测试效率、缩短测试时间的存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置。

一种存储模块的测试方法，存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括下述步骤：

S1.训练所述存储模块；

S2.识别所述存储模块是否通过训练，若是，执行步骤S3；若否，执行步骤S4；

S3.提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

S4.依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

S5.检测所述存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果；若否，输出检测异常的结果。

优选的，所述步骤S5检测所述存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述存储模块中；

S51.读取所述存储模块中的测试数据；

S52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤S53；若否，执行步骤S54；

S53.输出检测正常的结果；

S54.输出检测异常的结果。

优选的，所述步骤S52还包括：

当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。

本发明还提供了一种主板中存储单元的测试方法，所述存储单元包括至少两个存储模块，每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括：

A1.对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；

A2.识别所述待测存储模块是否通过训练，若是，执行步骤A3；若否，执行步骤A4；

A3.提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；

A4.依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；