[发明专利]测量系统和用于操作测量系统的方法

权利要求书

1.一种测量系统(10)，包括测量设备(16)以及至少第一探头单元(12)和第二探头单元(14)，

所述第一探头单元(12)和所述第二探头单元(14)各自以信号传输方式连接到所述测量设备(16)，

所述测量设备(16)和所述第一探头单元(12)中的至少一个包括控制单元(22)，

所述第一探头单元(12)包括接口模块(24)，其被配置为生成输入数据信号并将所述输入数据信号提供给所述控制单元(22)，

所述控制单元(22)被配置为基于所述输入数据信号生成控制信号并将所述控制信号至少提供给所述第二探头单元(14)。

2.根据权利要求1所述的测量系统(10)，其中，所述控制单元(22)被配置为将所述控制信号提供给所述第二探头单元(14)和所述测量设备(16)。

3.根据权利要求1或2所述的测量系统(10)，其中，所述测量设备(16)被配置为转发由包括所述控制单元(22)的第一探头单元(12)生成的所述控制信号。

4.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，至少所述第二探头单元(14)被配置为基于所述控制信号来调整操作参数。

5.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，所述接口模块(24)被配置为将所述输入数据信号转发到所述测量设备(16)。

6.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，所述第一探头单元和所述第二探头单元(12，14)中的至少一个包括检测器单元(18，20)，其被配置为以下中的至少一者：检测电磁信号；和传输电磁信号。

7.根据权利要求6所述的测量系统(10)，其中，所述检测器单元(18，20)包括第一接口和第二接口，所述第一接口被配置为接收电磁波并将测量信号提供给所述第二接口。

8.根据权利要求7所述的测量系统(10)，其中，所述第二接口被配置为基于所述测量信号生成经处理的测量信号。

9.根据权利要求8所述的测量系统(10)，其中，所述经处理的测量信号的频率低于所接收的电磁波的频率。

10.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，所述控制信号还被转发到所述第一探头单元(12)。

11.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，所述控制信号包括从以下的组中选择的至少一个控制命令：开启所述第一探头单元(12)、所述第二探头单元(14)和所述测量设备(16)中的至少一个；关闭所述第一探头单元(12)、所述第二探头单元(14)和所述测量设备(16)中的至少一个；将数据传输到所述第一探头单元(12)、所述第二探头单元(14)和所述测量设备(16)中的至少一个；以及调整触发条件。

12.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，所述第一探头单元(12)包括以信号传输方式连接到所述测量设备(16)的监视单元(26)。

13.根据权利要求12所述的测量系统(10)，所述监视单元(26)被配置为指示所述探头单元(12，14)中的至少一个探头单元的状态。

14.根据权利要求12或13所述的测量系统(10)，所述监视单元(26)被配置为指示对所述控制信号的表示。

15.一种用于操作测量系统(10)特别是根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)的方法，所述测量系统(10)包括测量设备(16)以及至少第一探头单元(12)和第二探头单元(14)，所述方法具有以下步骤：

-经由所述第一探头单元(12)接收用户输入；

-基于所述用户输入生成输入数据信号；

-基于所述输入数据信号生成控制信号；以及

-基于所述控制信号来调整所述第二探头单元(12)的至少一个操作参数。