[发明专利]图像与RTK结合的测量方法、系统、电子设备及介质

权利要求书

1.图像与RTK结合的测量方法,其特征在于：包括以下步骤：

S1：标定相机的内方位元素和畸变系数；

S2：利用畸变系数对相机拍摄的图像进行畸变纠正，并通过图像处理技术提取和匹配图像中的特征点，得到特征点的二维坐标；

S3：利用RTK技术得到相机的实时位置并将其转换为拍摄过程中相机投影中心的位置；

S4：将特征点的二维坐标以及投影的中心位置进行综合平差处理，得到特征点的三维坐标，利用特征点的三维坐标建立对应的空间模型。

2.如权利要求1所述的图像与RTK结合的测量方法，其特征在于：步骤S2和S3或S3和S4之间还设有步骤S00：采用粗差探测技术对特征点的二维坐标进行检查并且剔除其中的粗差坐标。

3.如权利要求1所述的图像与RTK结合的测量方法，其特征在于：S1中标定相机的方法采用张正友平面标定法。

4.如权利要求1所述的图像与RTK结合的测量方法，其特征在于：所述图像处理技术为SIFT++算法。

5.如权利要求1所述的图像与RTK结合的测量方法，其特征在于：所述平差处理采用的是光束法平差技术。

6.如权利要求1所述的图像与RTK结合的测量方法，其特征在于：所述畸变纠正采用OpenCV畸变纠正函数对图像进行畸变纠正。

7.图像与RTK结合的测量系统，其特征在于：包括以下模块：

标定模块：标定相机的内方位元素和畸变系数；

采集模块：利用畸变系数对相机拍摄的图像进行畸变纠正，并通过图像匹配技术提取和匹配图像中的特征点，且得到特征点的二维坐标；

RTK模块：利用RTK技术得到相机的实时位置并将相机的实时位置转换为相机拍摄过程中投影的中心位置；

建模模块：将特征点的二维坐标以及投影的中心位置进行综合平差处理，得到特征点的三维坐标，利用特征点的三维坐标建立对应图像的空间模型。

8.如权利要求7所述的图像与RTK结合的测量系统，其特征在于：系统设置有支撑杆，支撑杆中部设有用于固定电脑的固定装置，支撑杆顶部设有用于放置相机的框架，框架顶部设有RTK传感器。

9.电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的图像与RTK结合的测量方法。

10.计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的图像与RTK结合的测量方法。