[发明专利]异常探测系统、支持装置以及异常探测方法有效

专利信息
申请号: 201910111360.1 申请日: 2019-02-12
公开(公告)号: CN110322583B 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 川之上真辅;宫本幸太 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G07C3/00 分类号: G07C3/00;G06F16/2458;G06F16/248;G06F16/215
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 日本京都府京都市下京区*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 异常 探测 系统 支持 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种异常探测系统,其特征在于,包括:

控制运算部,执行用于对控制对象进行控制的控制运算;以及

第1异常探测部,将由所述控制运算部所收集的状态值中的与监控对象相关的状态值,给予至由异常探测用参数及学习数据集所规定的表示所述监控对象的模型,由此来探测所述监控对象中可能产生的异常;

所述第1异常探测部包括:

计算部,根据所述异常探测用参数,使用由与所述监控对象相关的状态值算出的特征量来算出得分;

判定部,使用由所述计算部所算出的得分与所述异常探测用参数中所含的第1判定基准及第2判定基准来分别进行判定,由此,当与所述第1判定基准一致时输出第1判定结果,当与所述第2判定基准一致时输出第2判定结果;

状态值保存部,保存由所述控制运算部所收集的状态值中的至少与所述监控对象相关的状态值;

第2异常探测部,使用从所述状态值保存部提供的所述状态值,执行与所述第1异常探测部实质上相同的探测处理;以及

模型生成部,基于所述第2异常探测部的探测结果,决定对所述第1异常探测部所设定的、所述异常探测用参数及所述学习数据集,

所述模型生成部包含:

显示得分的数据序列的部件,所述得分的数据序列是通过根据从所述状态值保存部提供的所述状态值所生成的一个或多个特征量算出;以及

针对所述得分的数据序列来受理第1判定基准及第2判定基准的设定的部件。

2.根据权利要求1所述的异常探测系统,其特征在于,

所述第1判定基准被设定为,与所述得分表示比所述第2判定基准更高的值的情况一致,

与所述第1判定基准对应的所述第1判定结果跟与所述第2判定基准对应的所述第2判定结果相比,表示异常的程度更高。

3.根据权利要求1或2所述的异常探测系统,其特征在于,

所述模型生成部包含一部件,所述部件基于对所述得分的数据序列中所含的各要素所赋予的标签、与对所述得分的数据序列适用由用户所指定的判定基准时的判定结果,来算出表示探测精度的指标值。

4.根据权利要求3所述的异常探测系统,其特征在于,

所述表示探测精度的指标值包含下述指标中的至少一个,即:

将被赋予有异常标签的要素判定为正常的概率即漏检率;

将被赋予有正常标签的要素判定为异常的概率即过检率;以及

作出如赋予给要素的标签般的判定的概率即正检率。

5.根据权利要求3所述的异常探测系统,其特征在于,

所述模型生成部在所设定的阈值受到变更时,更新表示所述探测精度的指标值。

6.根据权利要求1所述的异常探测系统,其特征在于还包括:

告知装置,以与来自所述判定部的判定结果相应的形态来进行告知动作。

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