[发明专利]一种测试系统在审
| 申请号： | 201910112607.1 | 申请日： | 2019-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN109900982A | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 弗里德里希-埃克哈德·布兰德 | 申请（专利权）人： | 菲尼克斯电气公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京国林贸知识产权代理有限公司 11001 | 代理人： | 李桂玲;郑俊彦 |
| 地址： | 德国布*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试设备 待测试设备 测量数据 数据集合 测试 存储器单元 测试系统 读取 电气设备 读取装置 连接插口 无接触 可用 测量 评估 | ||
1.一种测试系统（1），具有待测试设备（G）和测试设备（T），所述待测试设备（G）是电气设备，其特征在于，
所述待测试设备（G）具有存储器单元（C，RX），存储器单元存有待测试设备（G）的测量标准数据，所述测量标准数据构成第一种数据集合；
所述测试设备（T）具有读取装置（S，TX），读取装置无接触地读取所述待测试设备（G）的所述测量标准数据；
所述测试设备（T）还具有测试连接插口（B），测试连接插口用于测试设备连接所述待测试设备（G），以便执行测试；
所述测试设备（T）在测量时获取待测试设备（G）的待测量数据，并将获取的待测量数据构成第二种数据集合；
所述测试设备（T）基于所述第一种数据集合和所述第二种数据集合评估所述被测试的设备（G）是否仍然可用还是出现故障。
2.根据权利要求1所述的测试系统（1），其特征在于，所述存储器元件单元（C，RX）包含有用于所述连接插口（B）测试的电气配置数据。
3.根据权利要求1或2所述的测试系统（1），其特征在于，所述存储器单元（C，RX）还包含有用于执行测试的数据。
4.根据上述权利要求中任一项所述的测试系统（1），其特征在于，所述存储器元件（C，RX）另外还包含有与待测试设备规格有关的数据。
5.根据上述权利要求中任一项所述的测试系统（1），其特征在于，所述存储器单元（C）是一种多维的光学代码，所述读取装置（S）是光学扫描器。
6.根据权利要求5所述的测试系统（1），其特征在于，所述多维的光学代码（C）是一种二维的QR二维码。
7.根据上述权利要求1至4中任一项所述的测试系统（1），其特征在于，所述读取装置（TX）能够借助近场通信方法读取所述存储器单元（RX）。
8.根据上述权利要求中任一项所述的测试系统（1），其特征在于，所述读取装置这样被布置在所述测试设备（T）内，以便所述读取装置在待测试设备（G）插入所述测试设备（T）期间或之后能够读取所述存储器单元。
9.根据上述权利要求中任一项所述的测试系统（1），其特征在于，所述待测试设备（G）是一种过压保护设备。
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