[发明专利]一种配线的测试系统及测试方法有效
申请号: | 201910113177.5 | 申请日: | 2019-02-13 |
公开(公告)号: | CN109633947B | 公开(公告)日: | 2021-09-21 |
发明(设计)人: | 郑会龙;房耸;邹忠飞;李海波 | 申请(专利权)人: | 昆山龙腾光电股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G09G3/00 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 杨波 |
地址: | 215301 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 系统 方法 | ||
1.一种配线(30)的测试系统,其特征在于,包括:
测试信号产生模块(10),所述测试信号产生模块(10)输出开关信号、多个第一像素电压和多个第二像素电压;
多个开关元件(20),每个开关元件(20)包括第一控制端、第一通路端和第二通路端,每个开关元件(20)的第一控制端接收所述开关信号,每个开关元件(20)的第一通路端接收对应的第一像素电压或者对应的第二像素电压;
多条配线(30),所述多条配线(30)的多层走线与所述多个开关元件(20)的第二通路端一一对应相连,其中,所述多条配线(30)的每条配线(30)为三层走线的层叠结构;
显示面板(40),所述显示面板(40)的多条数据线(41)与所述多条配线(30)的多层走线一一对应相连;
其中,所述显示面板(40)在显示第一测试图像时,相邻的两条数据线(41)分别接收两个极性相反的第一像素电压;所述显示面板(40)在显示第二测试图像时,所述多条数据线(41)中每相邻两条数据线(41)为一组形成多组,属于同组的两条数据线(41)分别接收两个极性相同的第二像素电压,属于相邻两组的两条数据线(41)分别接收两个极性相反的第二像素电压。
2.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述多个第一像素电压为四个第一像素电压,所述多个第二像素电压为四个第二像素电压;所述测试信号产生模块(10)通过四个电压输出端输出所述多个第一像素电压或者所述多个第二像素电压,所述四个电压输出端与所述多个开关元件(20)的第一通路端以四个开关元件为周期依次对应循环连接。
3.根据权利要求1或2所述的测试系统,其特征在于,所述多个第一像素电压、所述多个第二像素电压都每帧极性反转一次。
4.根据权利要求2所述的测试系统,其特征在于,所述四个电压输出端依次相对设置在测试系统的两端。
5.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述显示面板(40)的多条栅极线均接收所述开关信号。
6.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述测试信号产生模块(10)、所述多个开关元件(20)和所述多条配线(30)都设置在所述显示面板(40)的非显示区域。
7.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,每条配线(30)的第一层走线、第二层走线和第三层走线的线宽相同且在垂直于层叠方向的平面上的投影完全重叠。
8.一种配线(30)的测试系统的测试方法,其特征在于,应用于如权利要求1至7任一项所述的测试系统,包括:
输出相应的开关信号导通多个开关元件(20);
输出多个第一像素电压,所述多个第一像素电压通过导通的所述多个开关元件(20)至多条配线(30),再通过所述多条配线(30)的多层走线至显示面板(40)的多条数据线(41),其中,所述多条配线(30)的每条配线(30)为三层走线的层叠结构;
判断所述显示面板(40)显示第一测试图像时是否出现像素列的线缺陷,若出现像素列的线缺陷,判断是否发生短路及短路类型,其中,所述显示面板(40)的相邻的两条数据线(41)分别接收两个极性相反的第一像素电压;
输出多个第二像素电压,所述多个第二像素电压通过导通的所述多个开关元件(20)至所述多条配线(30),再通过所述多条配线(30)的多层走线至所述显示面板(40)的多条数据线(41);
判断所述显示面板(40)显示第二测试图像时是否出现像素列的线缺陷,若出现像素列的线缺陷,判断是否发生短路及短路类型,其中,所述多条数据线(41)中每相邻两条数据线(41)为一组形成多组,属于同组的两条数据线(41)分别接收两个极性相同的第二像素电压,属于相邻两组的两条数据线(41)分别接收两个极性相反的第二像素电压。
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