[发明专利]地图关联方法、装置、存储介质及计算机设备

权利要求书

1.一种地图关联方法，包括：

获取高精度地图中的目标路段包括的第一采样点的位置信息；

对标准地图中与所述第一采样点对应的邻近路段包括的第二采样点进行重采样，得到第三采样点的位置信息；

根据所述第一采样点的位置信息和候选采样点组包括的第三采样点的位置信息，确定所述候选采样点组对应的代价参数；所述候选采样点组包括的第三采样点连续相邻、且数目与所述目标路段包括的第一采样点的数目相同；所述候选采样点组包括从进行重采样后得到的第三采样点中划分出来的部分第三采样点；针对任一候选采样点组，所述候选采样点组包括的第三采样点连续相邻，并且所述候选采样点组包括的第三采样点的数目与目标路段包括的第一采样点的数目相同；

根据代价参数最小的候选采样点组，从所述邻近路段中确定所述目标路段的匹配路段，并建立所述目标路段与所述匹配路段的关联关系。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在标准地图中确定与所述第一采样点对应的邻近路段的方式，包括：

从标准地图中，筛选与所述第一采样点的距离小于预定距离阈值的路段；

将筛选得到的路段，确定为与所述第一采样点对应的邻近路段。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标路段包括的各第一采样点与所述候选采样点组包括的各第三采样点分别对应；

所述根据所述第一采样点的位置信息和候选采样点组包括的第三采样点的位置信息，确定所述候选采样点组对应的代价参数，包括：

根据所述目标路段包括的各所述第一采样点的位置信息和所述候选采样点组包括的各所述第三采样点的位置信息，分别确定所述目标路段包括的各所述第一采样点与所述候选采样点组中的相应第三采样点的距离；

根据所述目标路段包括的各所述第一采样点与所述候选采样点组中的相应第三采样点的距离，确定所述候选采样点组与所述目标路段的几何距离匹配度以及所述候选采样点组与所述目标路段的形态匹配度；

根据所述几何距离匹配度和所述形态匹配度，确定所述候选采样点组对应的代价参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述目标路段包括的各所述第一采样点与所述候选采样点组中的相应第三采样点的距离，确定所述候选采样点组与所述目标路段的几何距离匹配度的方式，包括：

根据所述目标路段包括的各所述第一采样点与所述候选采样点组中的相应第三采样点的距离、以及目标统计参数，确定各所述第一采样点与所述候选采样点组中的相应第三采样点的几何距离匹配度分量；

根据各所述几何距离匹配度分量，确定所述候选采样点组与所述目标路段的几何距离匹配度；

其中，所述目标统计参数根据所述高精度地图中的第一样本采样点的位置信息、以及所述标准地图中与所述第一样本采样点匹配的第二样本采样点的位置信息确定。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，确定所述目标统计参数的方式，包括：

获取所述高精度地图中的第一样本采样点的位置信息、以及所述标准地图中与所述第一样本采样点匹配的第二样本采样点的位置信息；

根据所述第一样本采样点的位置信息和所述第二样本采样点的位置信息，确定所述第一样本采样点与所述第二样本采样点的距离；

对所述第一样本采样点与所述第二样本采样点的距离进行统计，得到统计均值和统计方差；

根据所述统计均值和统计方差，确定对数正态分布的均值及方差；所述目标统计参数包括所述对数正态分布的均值和方差。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述目标路段包括的各所述第一采样点与所述候选采样点组中的相应第三采样点的距离，确定所述候选采样点组与所述目标路段的形态匹配度的方式，包括：

从所述目标路段包括的各所述第一采样点与所述候选采样点组中的相应第三采样点的距离中，确定数值最大的距离；

将所述数值最大的距离，确定为所述候选采样点组与所述目标路段的形态匹配度。