[发明专利]可消除互容影响的电容检测装置有效
申请号: | 201910114768.4 | 申请日: | 2016-04-28 |
公开(公告)号: | CN110069156B | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 肯·克兰德尔;汤马斯派翠克·墨菲;陈信嘉 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰滨;王晓晓 |
地址: | 中国台湾新竹科学*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 消除 影响 电容 检测 装置 | ||
1.一种电容检测装置,该电容检测装置包含:
控制晶片,该控制晶片包含:
多个输入电容,用于同时耦接触控面板的多个第一电极及多个第二电极的信号输入端;
多个驱动电路,通过多个第一开关元件以通过所述多个输入电容输入驱动信号至所述多个第一电极及所述多个第二电极;
多个输出电阻,同时耦接所述多个第一电极及所述多个第二电极的信号输出端;及
模拟前端,通过多个第二开关元件连接至所述多个输出电阻,
其中,自容模式下,所述多个输入电容通过所述多个第一开关元件耦接于所述多个驱动电路与所述多个第一电极及所述多个第二电极间,以使所述多个第一电极及所述多个第二电极均接收所述驱动信号,且
通过所述多个第二开关元件,对应检测电极的所述输出电阻被耦接至所述模拟前端而其他的所述多个输出电阻被耦接至定电压源。
2.根据权利要求1所述的电容检测装置,其中
所述驱动信号为交流信号;且
所述模拟前端用于对所述输出电阻输出的交流检测信号进行放大及滤波处理,以产生处理后检测信号。
3.根据权利要求2所述的电容检测装置,该检测装置还包含:
数字后端,利用两正交信号分别调制所述处理后检测信号以产生两个调制后检测信号,并计算所述两个调制后检测信号的向量范数以作为碰触识别信号。
4.根据权利要求3所述的电容检测装置,其中
所述数字后端用于根据所述碰触识别信号的峰对峰值变化判断碰触事件。
5.根据权利要求1所述的电容检测装置,其中所述多个第一开关元件不同于所述多个第二开关元件。
6.根据权利要求1所述的电容检测装置,其中所述多个第一开关元件用于在互容模式下旁路所述多个输入电容。
7.根据权利要求1所述的电容检测装置,还包含:
多个第一接脚连接所述多个输入电容;及
多个第二接脚连接所述多个输出电阻,且所述多个第一接脚不同于所述多个第二接脚。
8.一种电容检测装置,该电容检测装置包含:
控制晶片,该控制晶片包含:
输入电容,用于通过多个第一接脚同时耦接触控面板的多个第一电极及多个第二电极的信号输入端;
驱动电路,通过所述输入电容输入驱动信号至所述多个第一电极及所述多个第二电极;及
输出电阻,通过多个第二接脚同时耦接所述多个第一电极及所述多个第二电极的信号输出端,其中所述多个第一接脚不同于所述多个第二接脚。
9.根据权利要求8所述的电容检测装置,其中所述输出电阻不与所述输入电容相连接。
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