[发明专利]基于强度调制的高空间分辨率的布里渊相关域分析系统有效
申请号: | 201910115322.3 | 申请日: | 2019-02-14 |
公开(公告)号: | CN109781154B | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 董永康;巴德欣;李悦;李惠;闫嘉亮 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01D5/353 | 分类号: | G01D5/353 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 毕雅凤 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 强度 调制 空间 分辨率 布里渊 相关 分析 系统 | ||
1.基于强度调制的高空间分辨率的布里渊相关域分析系统,其特征在于:
激光器发出的激光经过强度调制器的调制后分为上路和下路;
上路作为探测光经过单边带电光调制器进行调制,微波源产生正弦信号加载到单边带电光调制器上,单边带电光调制器将输入光信号调制为下移频的探测光,调制后的探测光经过第一掺铒光纤放大器和延时光纤进入待测光纤;
下路作为泵浦光进入第二掺铒光纤放大器,然后输入环形器的第一端口,从环形器的第二端口输出后进入待测光纤;
探测光在待测光纤中与泵浦光相互作用后,输入环形器的第二端口,从环形器的第三端口输出后进入光电探测器,示波器采集光电探测器的信号后,经过平均去除噪声和解调,获得待测光纤中相关峰的温度和应变信息;
所述强度调制器采用电光强度调制器,首先用直流电源加载等于电光强度调制器半波电压的偏置电压,然后将任意波形发生器产生的编码信号经过微波放大器放大后加载到电光强度调制器上;
通过强度调制器实现完美相移码型的相位调制。
2.根据权利要求1所述的基于强度调制的高空间分辨率的布里渊相关域分析系统,其特征在于,激光器采用分布反馈式光纤激光器,输出波长为1550nm。
3.根据权利要求1所述的基于强度调制的高空间分辨率的布里渊相关域分析系统,其特征在于,延时光纤的长度根据相关峰距离和待测光纤长度选取。
4.根据权利要求1所述的基于强度调制的高空间分辨率的布里渊相关域分析系统,其特征在于,光电探测器采用光电二极管实现。
5.根据权利要求1所述的基于强度调制的高空间分辨率的布里渊相关域分析系统,其特征在于,微波源产生正弦信号加载到单边带电光调制器上,通过改变微波源的频率对探测光进行扫频。
6.根据权利要求1所述的基于强度调制的高空间分辨率的布里渊相关域分析系统,其特征在于,在泵浦光进入第二掺铒光纤放大器前,将泵浦光输入脉冲模块,加强信号和相关峰的鉴别。
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