[发明专利]半导体存储装置有效

专利信息
申请号: 201910115448.0 申请日: 2019-02-14
公开(公告)号: CN110931065B 公开(公告)日: 2023-10-10
发明(设计)人: 永岛贤史 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: G11C11/34 分类号: G11C11/34;H10B41/00;H10B41/30;H10B43/00;H10B43/30
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 张轶楠;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,具备:

基板;

第1层叠体,其包括在与所述基板的表面交叉的第1方向上层叠的多个第1导电层;

第2层叠体,其包括在所述第1方向上层叠的多个第2导电层,并且在与所述第1方向交叉的第2方向上与所述第1层叠体相邻;

多个半导体部,其设置于所述第1层叠体与所述第2层叠体之间,在与所述第1方向及所述第2方向交叉的第3方向上配设,并且具备与所述多个第1导电层相对的第1半导体层、与所述多个第2导电层相对的第2半导体层以及设置于所述第1半导体层与所述第2半导体层之间的第1绝缘层;

第1存储部,其在所述第1导电层与所述第1半导体层之间存储信息;

第2存储部,其在所述第2导电层与所述第2半导体层之间存储信息;以及

第2绝缘层,其设置于在所述第3方向上相邻的所述半导体部之间,

所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度,在所述第1方向上的第1位置处以及所述第1方向上的与所述第1位置不同的第2位置处为极大,

若将与所述第1方向交叉且所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度在所述第1位置与所述第2位置之间的范围内最小的至少一个截面设为第1截面,

将该第1截面中的从所述第2绝缘层的几何学上的重心到所述第1层叠体或所述第2层叠体为止的最短距离设为D1,

将与所述第1方向交叉且所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度最大的至少一个截面设为第2截面,并且

将该第2截面中的所述第1层叠体的与预定的所述半导体部相对的相对面和所述第2层叠体的与所述预定的半导体部相对的相对面之间的距离设为D2,

则2D1>D2成立。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度在所述第1方向上的多个位置处为极大,

所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度为极大的所述多个位置中的、离所述基板最近的位置为所述第1位置,离所述基板最远的位置为所述第2位置。

3.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

所述第1绝缘层具备在所述第1方向上延伸的第1绝缘部和与所述第1绝缘部相比离所述基板较远地在所述第1方向上延伸的第2绝缘部,

所述第2绝缘层具备在所述第1方向上延伸的第3绝缘部和与所述第3绝缘部相比离所述基板较远地在所述第1方向上延伸的第4绝缘部,

若将所述第1绝缘部的所述第2方向上的中心位置与所述第2绝缘部的所述第2方向上的中心位置之间的距离设为d1,并且

将所述第2绝缘部的所述第2方向上的中心位置与所述第4绝缘部的所述第2方向上的中心位置在所述第2方向上的距离设为d2,

则d1>d2成立。

4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

所述第1绝缘层具备在所述第1方向上延伸的第1绝缘部和与所述第1绝缘部相比离所述基板较远地在所述第1方向上延伸的第2绝缘部,

所述第2绝缘层具备在所述第1方向上延伸的第3绝缘部和与所述第3绝缘部相比离所述基板较远地在所述第1方向上延伸的第4绝缘部,

所述第1绝缘部连接于所述第2绝缘部,

所述第3绝缘部连接于所述第4绝缘部。

5.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

在所述第1截面,所述第1层叠体及所述第2层叠体中的至少一方具备:

与所述半导体部相对的第1面;和

与所述第2绝缘层接触的第2面,

所述第1面及所述第2面形成连续的曲面。

6.根据权利要求1所述的半导体存储装置,具备:

第3绝缘层,其设置于所述第1层叠体与所述第1半导体层之间,包括所述第1存储部;和

第4绝缘层,其设置于所述第2层叠体与所述第2半导体层之间,包括所述第2存储部,

所述第2截面中的所述距离D2为从所述第1层叠体与所述第3绝缘层的界面到所述第2层叠体与所述第4绝缘层的界面为止的距离。

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