[发明专利]半导体存储装置有效
申请号: | 201910115448.0 | 申请日: | 2019-02-14 |
公开(公告)号: | CN110931065B | 公开(公告)日: | 2023-10-10 |
发明(设计)人: | 永岛贤史 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | G11C11/34 | 分类号: | G11C11/34;H10B41/00;H10B41/30;H10B43/00;H10B43/30 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张轶楠;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,具备:
基板;
第1层叠体,其包括在与所述基板的表面交叉的第1方向上层叠的多个第1导电层;
第2层叠体,其包括在所述第1方向上层叠的多个第2导电层,并且在与所述第1方向交叉的第2方向上与所述第1层叠体相邻;
多个半导体部,其设置于所述第1层叠体与所述第2层叠体之间,在与所述第1方向及所述第2方向交叉的第3方向上配设,并且具备与所述多个第1导电层相对的第1半导体层、与所述多个第2导电层相对的第2半导体层以及设置于所述第1半导体层与所述第2半导体层之间的第1绝缘层;
第1存储部,其在所述第1导电层与所述第1半导体层之间存储信息;
第2存储部,其在所述第2导电层与所述第2半导体层之间存储信息;以及
第2绝缘层,其设置于在所述第3方向上相邻的所述半导体部之间,
所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度,在所述第1方向上的第1位置处以及所述第1方向上的与所述第1位置不同的第2位置处为极大,
若将与所述第1方向交叉且所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度在所述第1位置与所述第2位置之间的范围内最小的至少一个截面设为第1截面,
将该第1截面中的从所述第2绝缘层的几何学上的重心到所述第1层叠体或所述第2层叠体为止的最短距离设为D1,
将与所述第1方向交叉且所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度最大的至少一个截面设为第2截面,并且
将该第2截面中的所述第1层叠体的与预定的所述半导体部相对的相对面和所述第2层叠体的与所述预定的半导体部相对的相对面之间的距离设为D2,
则2D1>D2成立。
2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,
所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度在所述第1方向上的多个位置处为极大,
所述第1绝缘层的所述第2方向上的宽度为极大的所述多个位置中的、离所述基板最近的位置为所述第1位置,离所述基板最远的位置为所述第2位置。
3.根据权利要求1所述的半导体存储装置,
所述第1绝缘层具备在所述第1方向上延伸的第1绝缘部和与所述第1绝缘部相比离所述基板较远地在所述第1方向上延伸的第2绝缘部,
所述第2绝缘层具备在所述第1方向上延伸的第3绝缘部和与所述第3绝缘部相比离所述基板较远地在所述第1方向上延伸的第4绝缘部,
若将所述第1绝缘部的所述第2方向上的中心位置与所述第2绝缘部的所述第2方向上的中心位置之间的距离设为d1,并且
将所述第2绝缘部的所述第2方向上的中心位置与所述第4绝缘部的所述第2方向上的中心位置在所述第2方向上的距离设为d2,
则d1>d2成立。
4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,
所述第1绝缘层具备在所述第1方向上延伸的第1绝缘部和与所述第1绝缘部相比离所述基板较远地在所述第1方向上延伸的第2绝缘部,
所述第2绝缘层具备在所述第1方向上延伸的第3绝缘部和与所述第3绝缘部相比离所述基板较远地在所述第1方向上延伸的第4绝缘部,
所述第1绝缘部连接于所述第2绝缘部,
所述第3绝缘部连接于所述第4绝缘部。
5.根据权利要求1所述的半导体存储装置,
在所述第1截面,所述第1层叠体及所述第2层叠体中的至少一方具备:
与所述半导体部相对的第1面;和
与所述第2绝缘层接触的第2面,
所述第1面及所述第2面形成连续的曲面。
6.根据权利要求1所述的半导体存储装置,具备:
第3绝缘层,其设置于所述第1层叠体与所述第1半导体层之间,包括所述第1存储部;和
第4绝缘层,其设置于所述第2层叠体与所述第2半导体层之间,包括所述第2存储部,
所述第2截面中的所述距离D2为从所述第1层叠体与所述第3绝缘层的界面到所述第2层叠体与所述第4绝缘层的界面为止的距离。
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