[发明专利]不同分组集合下的评估统计效能的方法

权利要求书

1.一种于不同分组集合下的评估统计效能的方法，其特征在于，包括：

设定样本空间对应的第一分组集合的多个第一分组范围；

设定所述样本空间对应的第二分组集合的多个第二分组范围；

根据所述样本空间，产生所述多个第一分组范围于每一个取样时间对应的多个第一机率值及多个第一标准偏差；

根据所述样本空间，产生所述多个第二分组范围于所述每一个取样时间对应的多个第二机率值及多个第二标准偏差；及

产生所述第一分组集合及所述第二分组集合对应的多个统计指标，并据以输出所述第一分组集合及所述第二分组集合的统计效能排序结果；

其中所述样本空间是随时间变化的随机程序取样空间，且所述多个统计指标是根据所述多个第一分组范围于所述每一个取样时间对应的所述多个第一机率值及/或所述多个第一标准偏差，及所述多个第二分组范围于所述每一个取样时间对应的所述多个第二机率值及/或所述多个第二标准偏差推导而得。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述多个第一分组范围于所述每一个取样时间对应的所述多个第一机率值，产生多个相邻的第一分组范围于所述每一个取样时间对应的多个第一机率差距；

产生所述每一个取样时间对应的所述多个第一机率差距的平均值及标准偏差；

根据所述多个第一机率差距的所述平均值及所述标准偏差，产生所述每一个取样时间对应的第一区别力指标；及

取得所述第一分组集合的所有取样时间中，最小第一区别力指标；

其中所述第一区别力指标是所述多个第一机率差距的所述平均值，与所述多个第一机率差距的所述标准偏差的比值。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述多个第二分组范围于所述每一个取样时间对应的所述多个第二机率值，产生多个相邻的第二分组范围于所述每一个取样时间对应的多个第二机率差距；

产生所述每一个取样时间对应的所述多个第二机率差距的平均值及标准偏差；

根据所述多个第二机率差距的所述平均值及所述标准偏差，产生所述每一个取样时间对应的第二区别力指标；及

取得所述第二分组集合的所有取样时间中，最小第二区别力指标；

其中所述第二区别力指标是所述多个第二机率差距的所述平均值，与所述多个第二机率差距的所述标准偏差的比值。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述多个统计指标包括所述最小第一区别力指标及所述最小第二区别力指标，且若所述最小第一区别力指标大于所述最小第二区别力指标，所述第一分组集合的统计效能大于所述第二分组集合的统计效能。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述多个第一分组范围于所述每一个取样时间对应的所述多个第一标准偏差，利用线性组合函式，产生所述每一个取样时间对应的第一标准偏差总覆盖值；

根据所述多个第一分组范围于所述每一个取样时间对应的所述多个第一机率值，由所述多个第一机率值中取得所述每一个取样时间对应的最大第一机率差距；

根据所述第一标准偏差总覆盖值及所述最大第一机率差距，产生所述每一个取样时间对应的第一误差程度指标；及

取得所述第一分组集合的所有取样时间中，最大第一误差程度指标；

其中所述第一误差程度指标是所述第一标准偏差总覆盖值与所述最大第一机率差距的比值。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述多个第二分组范围于所述每一个取样时间对应的所述多个第二标准偏差，利用所述线性组合函式，产生所述每一个取样时间对应的第二标准偏差总覆盖值；

根据所述多个第二分组范围于所述每一个取样时间对应的所述多个第二机率值，由所述多个第二机率值中取得所述每一个取样时间对应的最大第二机率差距；

根据所述第二标准偏差总覆盖值及所述最大第二机率差距，产生所述每一个取样时间对应的第二误差程度指标；及

取得所述第二分组集合的所有取样时间中，最大第二误差程度指标；

其中所述第二误差程度指标是所述第二标准偏差总覆盖值与所述最大第二机率差距的比值。