[发明专利]显示面板检测方法及显示面板检测装置在审
申请号: | 201910117875.2 | 申请日: | 2019-02-15 |
公开(公告)号: | CN109633948A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 刘增君;王鹏;周义 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂;王中华 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 缺陷信号 显示面板 相机 检测 点位 显示面板检测装置 载台 比较单元 驱动单元 图案 比对结果 标准图案 定位缺陷 方向移动 相机拍摄 自动检测 信号线 准确率 比对 预设 承载 镜头 驱动 拍摄 延伸 移动 | ||
1.一种显示面板检测装置,其特征在于,包括:载台(1)、朝向所述载台(1)设置的相机(2)、与所述相机相连的驱动单元(3)以及与所述相机相连的比较单元(4);
所述载台(1)用于承载待检测的显示面板(100)并接收待检测的显示面板(100)上的缺陷信号线(101)的位置信息,并根据所述缺陷信号线(101)的位置信息带动待检测的显示面板(100)移动,使得缺陷信号线(101)位于所述相机(2)的镜头范围内;
所述驱动单元(3)用于驱动所述相机(2)沿所述缺陷信号线(101)的延伸方向移动;
所述相机(2)用于拍摄所述缺陷信号线(101)上的各个点位的图案;
所述比较单元(4)用于将相机(2)拍摄的缺陷信号线(101)上的各个点位的图案与预设的标准图案进行比对,并根据比对结果确定所述缺陷信号线(101)上存在缺陷的点位。
2.如权利要求1所述的显示面板检测装置,其特征在于,还包括对应所述载台(1)设置的光照单元(5),所述光照单元(5)用于照射所述待检测的显示面板(100),以便于所述相机(2)拍摄。
3.如权利要求2所述的显示面板检测装置,其特征在于,所述光照单元(5)从所述显示面板(100)的靠近所述相机(2)的一侧照射所述显示面板(100)或从所述显示面板(100)的远离所述相机(2)的一侧照射所述显示面板(100)。
4.如权利要求1所述的显示面板检测装置,其特征在于,所述比较单元(4)还用于在所述缺陷信号线(101)上存在缺陷的点位的数量超出预设的数量阈值时,按照预设的筛选规则对各个存在缺陷的点位的进行二次筛选,去除不符合筛选规则的点位。
5.如权利要求4所述的显示面板检测装置,其特征在于,所述预设的筛选规则为:将每一个存在缺陷的点位的图案和与其相邻的点位的图案进行比较,若两者的差异在预设的差异范围内,则去除该存在缺陷的点位,若两者的差异超出预设的差异范围,则保留该存在缺陷的点位。
6.一种显示面板检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1、提供一显示面板检测装置,包括:载台(1)、朝向所述载台(1)设置的相机(2)、与所述相机相连的驱动单元(3)以及与所述相机(2)相连的比较单元(4);
步骤S2、提供待检测的显示面板(100),将所述待检测的显示面板(100)置于所述载台(1)上;
步骤S3、所述载台(1)接收待检测的显示面板(100)上的缺陷信号线(101)的位置信息,并根据所述缺陷信号线(101)的位置信息带动待检测的显示面板(100)移动,使得缺陷信号线(101)位于所述相机(2)的镜头范围内;
步骤S4、所述驱动单元(3)驱动所述相机(2)沿所述缺陷信号线(101)的延伸方向移动;
步骤S5、所述相机(2)拍摄所述缺陷信号线(101)上的各个点位的图案;
步骤S6、所述比较单元(4)将相机(2)拍摄的缺陷信号线(101)上的各个点位的图案与预设的标准图案进行比对,并根据比对结果确定所述缺陷信号线(101)上存在缺陷的点位。
7.如权利要求6所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述步骤S1中提供的显示面板检测装置还包括对应所述载台(1)设置的光照单元(5),所述步骤S5中还包括利用所述光照单元(5)照射所述待检测的显示面板(100),以便于所述相机(2)拍摄。
8.如权利要求7所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述光照单元(5)从所述显示面板(100)的靠近所述相机(2)的一侧照射所述显示面板(100)或从所述显示面板(100)的远离所述相机(2)的一侧照射所述显示面板(100)。
9.如权利要求6所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述步骤S6中还包括比较单元(4)在所述缺陷信号线(101)上存在缺陷的点位的数量超出预设的数量阈值时,按照预设的筛选规则对各个存在缺陷的点位进行二次筛选,去除不符合筛选规则的点位。
10.如权利要求9所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述预设的筛选规则为:将每一个存在缺陷的点位的图案和与其相邻的点位的图案进行比较,若两者的差异在预设的差异范围内,则去除该存在缺陷的点位,若两者的差异超出预设的差异范围,则保留该存在缺陷的点位。
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