[发明专利]一种用于调校雷尼绍测头的机构及调校方法

权利要求书

1.一种用于调校雷尼绍测头的机构，其特征在于，包括：

底座主体，所述底座主体的顶部设有内凹槽，其端部设有与所述内凹槽连通的第一通孔，其第一侧壁上设有与所述内凹槽连通的缺口，所述缺口的两侧分别设有第一限位件和第二限位件，其第二侧壁上设有第三限位件，所述第一侧壁或第二侧壁的外表面为基准面；

环形件，所述环形件的径向横截面为圆环形；

顶杆，所述顶杆的一端与所述第一通孔转动相连，且位于所述底座主体内，另一端位于底座主体外侧；

当所述环形件位于所述内凹槽内时，所述第一限位件、第二限位件、第三限位件和顶杆配合使得环形件平行于所述基准面，且所述环形件的内环位于缺口的内侧。

2.根据权利要求1所述的用于调校雷尼绍测头的机构，其特征在于：所述第一限位件、第二限位件和第三限位件均包括与所述内凹槽连通的限位孔，以及设于所述限位孔内的紧固件。

3.根据权利要求1所述的用于调校雷尼绍测头的机构，其特征在于：所述底座本体上还设有与所述内凹槽相连通的第二通孔，所述第二通孔与第一通孔位于所述底座本体的同一端。

4.根据权利要求1所述的用于调校雷尼绍测头的机构，其特征在于：所述第一限位件和第二限位件对称设置在所述缺口的两侧。

5.根据权利要求1所述的用于调校雷尼绍测头的机构，其特征在于：所述内凹槽的长度大于所述环形件的外径尺寸。

6.根据权利要求1所述的用于调校雷尼绍测头的机构，其特征在于：还包括旋钮，所述旋钮设于所述底座主体外侧，且与所述顶杆上位于底座主体外侧的一端相连。

7.一种基于用于调校雷尼绍测头的机构的调校方法，其特征在于，包括：

调整底座主体使得调整底座上的基准面平行于机床的X轴；

将环形件放置到底座主体顶部的内凹槽内；

转动顶杆，利用顶杆将环形件驱动至指定位置，并保持顶杆与环形件相抵；

利用第一限位件、第二限位件和第三限位件对环形件进行预定位；

利用第一限位件、第二限位件和第三限位件对环形件进行微调，直至所述环形件的端面平行于机床的X轴，且所述环形件的内环位于缺口的内侧；

开启安装在机床主轴上的雷尼绍测头，所述雷尼绍测头与机床X轴和Y轴组成的平面呈垂直关系，并利用所述雷尼绍测头测量环形件内环的上端点、下端点、右端点、左端点，得到环形件内环的圆心坐标；

将所述使用雷尼绍测头测得的环形件内环的圆心坐标与使用杠杆千分表找正的环形件内环的圆心坐标实际值之差作为误差值输入机床雷尼绍测头参数表，修正雷尼绍测头的参数，完成雷尼绍测头的快速调校。

8.根据权利要求7所述的基于雷尼绍测头调校机构的调校方法，其特征在于，所述调整底座主体使得调整底座上的基准面平行于机床的X轴，具体为：

利用千分表测量底座主体上的基准面与机床的X轴之间的距离，并根据测量结果调整底座主体直至所述基准面平行于机床的X轴。

9.根据权利要求7所述的基于雷尼绍测头调校机构的调校方法，其特征在于，所述利用第一限位件、第二限位件和第三限位件对环形件进行微调，直至所述环形件的端面平行于机床的X轴，且所述环形件的内环位于缺口的内侧，具体为：

利用千分表测量所述环形件与机床的X轴之间的距离，并利用第一限位件、第二限位件和第三限位件对环形件进行微调，直至所述环形件的端面平行于机床的X轴，且所述环形件内环壁位于缺口的内侧。

10.根据权利要求7所述的基于雷尼绍测头调校机构的调校方法，其特征在于，所述顶杆与底座主体之间为转动相连。