[发明专利]一种大视场振镜同轴视觉成像装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910121542.7 申请日: 2019-02-19
公开(公告)号: CN109822213B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 王雪辉;王建刚;雷桂明;许维;温彬;喻浩 申请(专利权)人: 武汉华工激光工程有限责任公司
主分类号: B23K26/064 分类号: B23K26/064;B23K26/082
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 张涛
地址: 430223 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 视场 同轴 视觉 成像 装置 方法
【说明书】:

一种大视场振镜同轴视觉成像装置及方法,装置包括光源、场镜、振镜系统、光阑部件、分光镜、摄像镜头、图像传感器和激光器组件,所述光源用于照射待加工工件表面,工件表面反射的成像系统光束依次经场镜、振镜系统、光阑部件和分光镜入射到摄像镜头,并通过图像传感器接收;激光器组件发射的激光光束依次经分光镜、光阑部件、振镜系统、场镜照射至待加工工件表面。本发明可大幅提升振镜同轴视觉幅面,在激光加工中,直接采用振镜同轴视觉完成大样品的视觉定位功能,并克服了激光加工系统中振镜系统温漂造成的定位偏差。

技术领域

本发明振镜同轴视觉成像领域,具体涉及一种大视场振镜同轴视觉成像装置及方法。

背景技术

激光加工已经广泛应用于现代制造中,特别是在精密加工、微加工领域,包括切割、标刻、喷印、钻孔、雕刻、扫描等,随着现代精密制造对激光加工的形位精度、柔性适应性、智能化和效率要求越来越高,所以带有视觉定位及检测的激光加工系统越来越普及,带有视觉定位的激光加工系统一般有俩种方式,一种为旁轴视觉,是机械视觉成像镜头相对于激光加工头侧面放置,视觉系统和激光加工系统相互独立;一种为同轴视觉,是视觉定位系统通过激光加工头光路,共用大部分光路系统,同轴视觉可以克服激光加工系统中聚焦系统漂移造成的定位偏差。但现有的激光同轴定位和检测的视觉幅面均比较小,一般最大兼容1/2英寸的图像传感器,配合F170的场镜图像传感器视觉幅面短边在12mm左右,无法一次性拍摄较大样品,无法完成视觉定位功能,现有一种方法是采用俩个视觉系统,视觉幅面小的系统进行位置补偿,视觉幅面大的系统进行定位(引用专利:CN105598579A,20160525,基于两个同轴进行视觉定位的激光加工装置及方法),该方案一方面增加了成本以及调试的繁琐,另一方面系统和俩个图像传感器的稳定性以及配合度要求非常高,使用时并不灵活和方便。

发明内容

为解决现有技术中的激光同轴定位和检测的视觉幅面均比较小,一般最大兼容1/2英寸的图像传感器,短边视野只有12mm左右,无法满足现有较大样品的定位和检测的视野需求,本发明提供一种大视场振镜同轴视觉成像装置及方法,本发明的技术方案如下:

作为本发明的第一方面,提供一种大视场振镜同轴视觉成像装置,所述装置包括光源、场镜、振镜系统、光阑部件、分光镜、摄像镜头、图像传感器、激光器组件,所述光源用于照射待加工工件表面,所述待加工工件表面的成像系统光束依次经所述场镜、所述振镜系统、所述光阑部件、所述分光镜入射到摄像镜头,并通过图像传感器接收;所述激光器组件发射的激光光束依次经所述分光镜、所述光阑部件、所述振镜系统、所述场镜聚集至所述待加工工件表面。

进一步地,所述激光器组件包括激光器和激光全反镜,所述激光器发射的激光光束经激光全反镜反射后射入到所述分光镜。

进一步地,成像系统的照明光,其光源的波长是常用照明光源,具体为白光、红光(610nm~650nm)、蓝光(400nm~580nm)、红外光(820nm~960nm)等。

进一步地,激光光束是由激光器发出,激光光束的波长为常用的激光加工波长,具体为266nm、355nm、450nm、532nm、850nm、950nm或1064nm等。

作为本发明的另一方面,提供一种大视场振镜同轴视觉成像方法,所述方法包括:

待加工工件表面反射的成像系统光束依次经场镜、振镜系统、光阑部件、分光镜入射到摄像镜头,并通过图像传感器接收;

激光器发射的激光光束依次经过激光全反镜、分光镜和光阑部件到达振镜系统内,并通过场镜聚焦到待加工工件表面上。

进一步地,所述图像传感器为二维面阵CCD或者COMS图像传感器,或者为一维的线阵CCD或者COMS图像传感器,再或者为可接收和处理图像信息的其他图像传感器;

进一步地,所述摄像镜头的镜头焦距在30mm~200mm之间,摄像镜头的光阑在摄像镜头的外部,同时摄像镜头在不同的视场角的聚焦光斑的RMS应小于1.2倍的艾利光斑。

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