[发明专利]多工位半导体激光器可靠性测试系统在审

专利信息
申请号: 201910124254.7 申请日: 2019-02-18
公开(公告)号: CN109888610A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 苏萌;路国光;徐华伟;彭琦;黄凯;黄林轶 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: H01S5/00 分类号: H01S5/00;G01D21/02
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 付建军
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 激光器 电参数 工控机 电源控制模块 功率数据 多工位 可靠性测试系统 半导体激光器 激光电源 温度数据 采集 温度控制模块 小功率激光器 光探测模块 接收激光器 控制激光器 温度探测器 多路输出 自动测试 采集板 多路 传送 输出 发射 监控 检测
【权利要求书】:

1.一种多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,包括:

工控机、温度控制模块、温度探测器、激光电源、电源控制模块、电参数采集板和光探测模块,

所述电源控制模块与所述激光电源连接,用于将所述激光电源的输出分多路并对应提供给每个激光器;

所述电参数采集板与所述电源控制模块连接,用于采集所述电源控制模块的多路输出的电参数,作为对应激光器的电参数传送到所述工控机;

所述温度控制模块用于控制所述激光器的温度;

所述温度探测器用于检测所述激光器的温度并将温度数据传送到所述工控机;

所述光探测模块用于接收所述激光器发射过来的光,采集所述激光器的功率数据,并将采集到的功率数据传送到所述工控机;

所述工控机接收来自所述电参数采集板的电参数、来自所述温度探测器的温度数据和来自所述光探测模块的功率数据,对所述激光器的可靠性进行监控。

2.根据权利要求1所述的多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,还包括测试箱,所述温度控制模块、温度探测器、激光电源、电源控制模块、电参数采集板和光探测模块设置于所述测试箱。

3.根据权利要求1或2所述的多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,还包括激光器夹具板,所述激光器通过夹具固定在所述激光器夹具板上。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,所述温度控制模块包括发热管,所述发热管安装于所述激光器夹具板,用于加热所述激光器夹具板。

5.根据权利要求4所述的多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,所述激光器夹具板包括上夹具板和下夹具板,所述发热管设置在所述上夹具板和下夹具板之间。

6.根据权利要求4或5所述的多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,所述温度控制模块还包括温度控制器,所述温度控制器根据所述温度探测器检测的温度,控制所述发热管的加热温度。

7.根据权利要求1-6中任意一项所述的多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,所述电源控制模块的每一路输出的电路包括开关、与所述开关连接的恒流源和与所述恒流源连接的电阻。

8.根据权利要求1-7中任意一项所述的多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,所述光探测模块包括光探测器和光电功率采集板,所述光探测器用于接收激光,所述光电功率采集板用于采集激光的功率数据。

9.根据权利要求8所述的多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,所述光电功率采集板上设置有制冷片,所述光探测器设置于所述制冷片上。

10.根据权利要求1-9中任意一项所述的多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,所述电参数采集板上设置有高速保护电路,所述高速保护电路包括瞬态尖峰或浪涌保护电路、短路保护电路、断路保护电路、过压保护电路、低压保护电路。

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