[发明专利]基于油基泥浆环境微电阻率扫描成像的多频率校正方法

权利要求书

1.一种基于油基泥浆环境微电阻率扫描成像的多频率校正方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1：获取油基泥浆环境下的实际回路阻抗；

S2：基于地层视电阻随测量频率线性变化的关系，建立等效电路模型，并使用其获取模拟回路阻抗；

S3：根据实际回路阻抗的实部和虚部与模拟回路阻抗的实部和虚部对应相等，获取六个非线性方程；

S4：联立六个非线性方程，获取非线性方程组并进行求解，获取等效电路模型的电路参数；

S5：根据等效电路模型的电路参数，获取当前测量频率对应的地层视电阻；

所述步骤S1中，实际回路阻抗的公式为：

Z₁₀＝A₁₀+j·B₁₀

Z₂₀＝A₂₀+j·B₂₀

Z₃₀＝A₃₀+j·B₃₀

式中，Z₁₀、Z₂₀、Z₃₀分别为测量频率f₁、f₂、f₃时的实际回路阻抗；A₁₀、A₂₀、A₃₀分别为测量频率f₁、f₂、f₃时实际回路阻抗的实部系数；B₁₀、B₂₀、B₃₀分别为测量频率f₁、f₂、f₃时实际回路阻抗的虚部系数；

所述步骤S2中，模拟回路阻抗公式为：

式中，Z₁、Z₂、Z₃分别为测量频率f₁、f₂、f₃时的模拟回路阻抗；ω₁、ω₂、ω₃分别为测量频率f₁、f₂、f₃时等效电路模型的角频率；R_f1、R_f2、R_f3分别为测量频率f₁、f₂、f₃时等效电路模型的地层视电阻；C_m为等效电路模型的阻容并联部分的电容；R_m为等效电路模型的阻容并联部分的电阻；L为等效电路模型的电感；K为校正系数；A₁、A₂、A₃分别为测量频率f₁、f₂、f₃时模拟回路阻抗的实部系数；B₁、B₂、B₃分别为测量频率f₁、f₂、f₃时模拟回路阻抗的虚部系数,R_f0为线性化后频率测量在测量频率f＝0时的地层视电阻。